Messung Einzelner Impulse; Gepufferte Impulsmessung Mit Implizitem Takt; Gepufferte Impulsmessung Mit Sample-Takt - National Instruments Crio-9053 Benutzerhandbuch

Messung einzelner Impulse

Die Messung eines Einzelimpulses (auf Anforderung) entspricht zwei Messungen der
Impulsbreite – einmal für den High-Zustand und einmal für den Low-Zustand des Impulses
(vgl. die folgende Abbildung).
Abbildung 57. Messung einzelner Impulse (auf Anforderung)
Zähler aktiviert
Gate
Source
Gespeicherter
Zählerwert

Gepufferte Impulsmessung mit implizitem Takt

Bei der gepufferten Impulsmessung mit implizitem Takt wird der Zählerstand an jeder Flanke
des Gate-Signals im FIFO des Zählerbausteins gespeichert. Die Werte werden anschließend
mit hoher Geschwindigkeit in den Host-Speicher gestreamt.
Die Zählung beginnt erst, nachdem der Zähler aktiviert wurde. Die Aktivierung tritt
normalerweise zwischen den Flanken des Gate-Signals auf. Die Zählung selbst beginnt jedoch
erst bei der gewünschten Flanke. Mit der Eigenschaft Startflanke in NI-DAQmx kann
festgelegt werden, ob der Wechsel auf High oder auf Low zuerst gezählt werden soll.
In der folgenden Abbildung sehen Sie ein Beispiel für eine solche Art der Messung.
Abbildung 58. Gepufferte Impulsmessung mit implizitem Takt
Zähler aktiviert
Gate
Source
Puffer

Gepufferte Impulsmessung mit Sample-Takt

Bei der gepufferten Impulsmessung mit Sample-Takt werden mehrere Impulse gemessen. Die
zeitliche Steuerung der Messung wird mit einem Taktgeber durchgeführt.
Der zu messende Impuls liegt dabei am Gate-Eingang des Zählerbausteins an. Bei jeder Flanke
des Sample-Takts wird die gezählte Anzahl der Taktimpulse für die High- und Low-Dauer des
Impulses im FIFO für die letzte aktuelle Impulsmessung gespeichert. Die Werte werden
anschließend mit hoher Geschwindigkeit in den Host-Speicher gestreamt.
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