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ZEISS
4.2.5.3
Schwingungsrichtung n
(1) Anwendung
Die Bestimmung der Schwingungsrichtungen von n
bzw. relativ größten Brechungsindex) und n
kleinsten Brechungsindex) bezogen auf die morphologischen Richtungen, z. B. von Kristallflächen,
Kristallnadeln oder Fasern, liefert ein wichtiges Erkennungsmerkmal. Dieses Verfahren wird auch bei der
Diagnose von Biokristallen (z. B. Gicht, Pseudogicht) eingesetzt.
Abb. 4-14
Schwingungsrichtung n
(2) Geräteausrüstung für Axiolab für Konoskopie
− Okular mit Strichkreuz
− Spannungsfreie Objektive
− Drehtisch Pol (Abb. 4-13/1)
− Polarisator D (drehbar oder fest)
− Ggf. Lambda-Kompensator oder Lambda/4-Kompensator
− Justierpräparat Pol für Polarisationsmikroskopie (453679-0000-000)
(3) Mikroskop einstellen
• Einstellen des Mikroskops wie für die Durchlicht-Hellfeld-Mikroskopie (siehe Abschnitt 4.2.1 (3)), dabei
besonders auf den richtig eingestellten Augenabstand am Binokulartubus achten (siehe
Abschnitt 4.1.1).
• Drehtisch Pol (Abb. 4-7/1) und Objektive zentrieren (siehe Abschnitte 3.1.7.5 und 3.1.7.6).
• Polarisator (Abb. 4-7/3) in Strahlengang einschwenken und auf 0° positionieren, sofern ein drehbarer
Polarisator verwendet wird.
• Analysatorschieber in den Strahlengang einschwenken und mit dem Stellrad in gekreuzte Stellung
bringen. Aufgrund der gekreuzten Polarisatoren erscheint nun das Sehfeld dunkel.
• Justierpräparat Pol auf den Mikroskoptisch legen und bis zur Dunkelstellung des Justierpräparates
drehen.
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BEDIENUNG
Beleuchtungs- und Kontrastverfahren im Durchlicht
bestimmen
γ'
oder n
α
am Beispiel einer Kunstfaser bestimmen
γ'
430037-7444-000
bzw. n
(Schwingungsrichtung mit dem absolut
γ
γ'
(Schwingungsrichtung mit dem absolut bzw. relativ
α'
Axiolab 5
07/2018
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