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Erzeugen eines neuen Diagnosefilters
Diagnostiksysteme und Untersysteme
Die Diagnostikfunktionen verteilen sich auf die drei Gerätehauptsysteme - Analysator,
Zubehör und Plasmasystem - und auf deren Untersysteme. Sie können innerhalb des
Diagnostiksystems benutzerdefinierte Filter erzeugen, um ein Problem in ein bestimm-
tes System oder Untersystem zurückverfolgen zu können.
Analysatorsystem
Das Analysatorsystem besteht aus den Geräteteilen, die nach dem ICP-System und
dem zentralen Interface folgen.
Analysatoruntersysteme
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3. In der Liste erscheinen schreibgeschützte Komponenten grau unterlegt und
Komponenten mit veränderbaren Werten auf weißem Untergrund. Benutzen
Sie zum Ändern eines Parameterwerts die Felder in der Spalte Value. Um
Details zu einem Eintrag in der Liste zu sehen, klicken Sie doppelt auf die be-
treffende Komponente.
Alle hier ausgeführten Änderungen werden entsprechend auf dem Reiter
Manual Adjust des Fensters Conditions übernommen.
4. Klicken Sie auf Logger, um die Dialogbox Logger zu öffnen, worin Sie
Einlogparameter festlegen und die Echtzeitdatenerfassung starten können.
1. Öffnen Sie den Reiter Diagnostics des Fensters Instrument.
2. Klicken Sie auf Edit List. Die Dialogbox Edit List wird eingeblendet.
3. Klicken Sie auf New und tragen Sie im Feld Filter Name einen eindeutigen
Namen ein. Das neue Filter erscheint nun im Feld Defined Filters.
4. Scrollen Sie in der Tabelle nach unten und wählen Sie die Komponenten aus,
welche Sie diesem Filter hinzufügen möchten. Damit legen Sie die System-
funktionen fest, welche das Filter überwachen und anzeigen soll.
5. Klicken Sie auf Save und danach auf Close.
Um ein anderes Filter zu verwenden, wählen Sie es in der Liste Filter aus.
•
Aux I/O Untersystem: Kontrolliert die Schnittstelle zwischen dem Grundgerät
und externen Hardwarekomponenten, wie Pumpen oder Probengeber.
•
Analysatorsteuerungs-Untersystem: Umfasst die Kontolle der Schalter
für verschiedene Untersysteme, wie Konenzugangs- und Vakuum-LEDs.
•
Detektor-Untersystem: Steuert und überwacht die Spannungen und Strom-
stärken am Detektor.
•
DRC-Untersystem: Steuert und überwacht alle Parameter der Funktionen des
KED- und DRC-Modus, wie Spannungen und Strömungsraten.
•
Fehler-Untersystem: Liefert Störungsanzeigen und Fehlermeldungen.
•
Massenfilter-Untersystem: Steuert und überwacht die elektrischen Parameter
im Bereich des Massenanalysator-Quadrupols und seines Netzteils.
•
Optik-Untersystem: Steuert und überwacht die elektrischen Parameter am
Deflektor und an anderen Linsen.
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