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Hardwarehandbuch
Haupt-Untersysteme
Das Gerät besteht aus mehreren
Probeneinführungs-Untersystem
Das Probeneinführungs-Untersystem verwandelt eine Flüssigprobe in ein feines Aerosol,
das vom ICP-MS-Gerät analysiert werden kann. Die peristaltische Pumpe presst die Pro-
benflüssigkeit in den Zerstäuber und pumpt gleichzeitig den Ablauf der Sprühkammer
in einen Abfallbehälter.
Der Zerstäuber erzeugt mit Hilfe des Argons beim Austritt der flüssigen Probe aus einer
Düsenspitze einen feinen Nebel. Dieser gelangt in die Sprühkammer, wo größere Tröpf-
chen aus dem Aerosol abgeschieden werden. Diese Tropfen verlassen als Ablauf die
Sprühkammer, während der Probennebel durch das Injektorrohr in die Plasmafackel
gelangt.
Das Plasmagas -Argon - wird in die ICP-Fackel zwischen dem äußeren und dem mittleren
Quarzrohr eingeführt. Die Zündung des Plasmas erfolgt durch Ionen und Elektronen
einer kurzzeitigen Funkenentladung. Das elektromagnetische Hochfrequenzfeld der
Induktionsspule des HF-Generators unterhält die Elektronenkollision mit dem Plasmagas
und erzeugt ein stabiles teilionisiertes Plasma. In diesem werden die Aerosoltröpfchen
entwässert, verdampft, atomisiert und ionisiert. Ein Teil der Probenionen gelangt durch
die Bohrung des Sampler-Konus in das Interface.
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Probeneinführungs-Untersystem, Seite 16
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Interface-Untersystem, Seite 18
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Ionenoptik-Untersystem, Seite 19
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Vakuum-Untersystem, Seite 20
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XYZ-Untersystem, Seite 20
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Gas-Untersystem, Seite 20
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Kühlungs-Untersystem, Seite 22
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Elektrik-Untersystem, Seite 23
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Türen, Deckel und Paneele, Seite 25
Haupt-Untersystemen:
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