Inhaltsverzeichnis
Werbung
A
CHTUNG
aggressiven Lösungen arbeiten. Säuren, Laugen oder Reinigungslösungen
(Bleichmittel) verdunsten im Inneren des Lesegeräts und verursachen Korrosion.
Dies kann zu schweren Schäden am Gerät führen und dessen einwandfreie Funktion
beeinträchtigen. Tecan kann keine Verantwortung oder Haftung übernehmen, wenn
der Leser durch unsachgemäße Handhabung der Platte beschädigt wird.
A
CHTUNG
fluoreszierenden und lumineszierenden Kontaminierungen in Form von Tropfen ist
und sich bewusst sein, dass einige Materialien für die Versiegelung von Mikroplatten
klebrige Rückstände hinterlassen, die vor der Messung entfernt werden sollten.
4.1
Z-Position
Die Abstandshöhe des Objektivs über der Probe kann mithilfe der Funktion Z-Position angepasst werden.
Da Anregungslicht von der Probenflüssigkeit reflektiert wird, ist eine Anpassung der Z-Position hilfreich,
um das Signal-Rausch-Verhältnis zu maximieren. Weitere Details zur Z-Position finden Sie im
entsprechenden Kapitel des Referenzhandbuchs.
4.2
Schütteln
Der SPARK kann - bevor eine Messung gestartet wird oder zwischen kinetischen Zyklen - Platten
schütteln. Drei Schüttelmodi stehen zur Verfügung: linear, orbital und doppelt orbital. Die
Schüttelamplitude kann von 1 bis 6 mm in Schritten von 0,5 mm ausgewählt werden. Die Frequenz ist
eine Funktion der Amplitude. Die Schütteldauer kann zwischen 3 und 3600 Sekunden gewählt werden.
4.3
Inkubations-/Kühlposition
Der SPARK verfügt über eine vordefinierte Inkubations-/Kühlposition mit optimaler Temperaturverteilung.
Diese Positionen können für das Schütteln oder für Warte-Schritte während eines Messdurchgangs
benutzt werden.
38
Gebrauchsanweisung - Grundlagen - SPARK - Artikel Nr. 30124652 - Version 2.0
: Lassen Sie Mikroplatten nicht über Nacht im Gerät, wenn Sie mit
: Benutzer sollten auch darauf achten, dass die Oberseite der Platte frei von
2021-06
Werbung
Inhaltsverzeichnis
Fehlerbehebung
