Technische Daten - X-Rite Exact Benutzerhandbuch

Technische Daten

SPEKTRALTECHNOLOGIE
Spektralanalyse:
Spektralbereich:
OPTIK
Messgeometrie:
Messblende:
Lichtquelle:
REFLEXIONSMESSUNG
Messbedingungen:
Kalibrierung:
Messgeräteübereinstimmung:
Kurzzeitmessstabilität:
Weiß:
Kurzzeitmessstabilität:
Dichte:
BETRIEBSBEDINGUNGEN
Umgebungstemperatur:
Lagerungstemperatur:
DRS-Technologie
400 - 700 nm mit 10 nm Intervall
45°:0° Optik mit Lichtring, ISO 5-4:2009(E)
1,5, 2, 4 oder 6 mm
Gasgefüllte Wolfram-Glühlampe (Lichtart A) und UV LED
gemäß ISO 13655:2009):
• M0: Nicht polarisiert, No Filter (UVincluded)
• M1: D50
• M2: UVCut (UVexcluded)
• M3: Pol-Filter (M3 steht im eXact Xp nicht zur Verfügung)
Automatisch mit integriertem Kalibrierstandard
Mittel:0,25 ∆E*ab, Max: 0,45 ΔE*ab (M3: 0,55 ΔE*ab)
Messungen mit X-Rite Standard bei einer Temperatur
von 23 °C +/- 1°C und 40-60% rel Luftfeuchtigkeit für
alle Messungen auf 12 BCRA-Kacheln und einem
Weißstandard (D50, 2°).
0,05 ∆E*ab, (Standardabweichung) Weiße BCRA
Fehler aus dem Mittelwert von 10 Messungen alle 5
Sekunden.
+/-0,01 D für CMYK-Messungen
(Messungen Status E oder Status T)
Maximaler Fehler aus dem Mittelwert von 10 Messungen
alle 5 Sekunden bei 2,0 D (1,7 D für M3 Gelb).
10 bis 35 °C
max. 30-85% rel. Luftfeuchtigkeit (nicht kondensierend)
-20 bis 50 °C
X - R i t e e X a c t ™ G e r ä t
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