Technische Daten; Spezifikationen - X-Rite i1 PRO Benutzerhandbuch

Technische Daten

Spektral­
technologie:
Messfrequenz im Scanmodus
Optik:
Reflexions­
messung:
78
i1
®
Diodenraster) mit integriertem Wellenlängentest
Spektralbereich 380 - 730 nm
Physikalisches Messintervall 3,5 nm
Optische Auflösung 10 nm
Spektrale Auflösung 380 nm ... 730 nm mit 10 nm Intervall
200 Messungen pro Sekunden
Messgeometrie 45°/0°; Ringbeleuchtungsoptik, ISO 13655:2009
Messblende 4,5 mm Durchmesser
(effektive Messblende während des Scans hängt von der Messfeldgröße
und Messgeschwindigkeit ab)
Messfleckgröße 3,5 mm
Lichtquelle Gasgefüllte Wolfram-Glühlampe (Typ A) und UV-LED
spektrale Reflexion (dimensionslos)
Messbedingungen NoFilter - ISO 13655:2009 Messung M0
D50 - ISO 13655:2009 Messung M1
UVCut - ISO 13655:2009 Messung M2
OBC: Korrektur für optische Aufheller (OBC) mit Software i1Profiler
-Technologie (holografisches Beugungsgitter mit einem 128-Pixel-