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Technische Daten

SPEKTRALTECHNOLOGIE
Spektralanalyse:
Spektralbereich:
OPTIK
Messgeometrie:
Messblende:
Lichtquelle:
REFLEXIONSMESSUNG
Messbedingungen:
Kalibrierung:
Messgeräteübereinstimmung:
Kurzzeitmessstabilität
Weiß:
Kurzzeitmessstabilität
Dichte:
Scanlänge:
BETRIEBSBEDINGUNGEN
Umgebungstemperatur:
Lagerungstemperatur:
SCHNITTSTELLE, ABMESSUNGEN UND GEWICHT
Datenschnittstelle:
DRS Technologie
400 - 700 nm im 10 nm Intervall
45°: 0° Optik mit Lichtring, ISO 13655:2017
1,5, 2, 4 oder 6 mm
LED (LED-Lichtquelle mit vollem Spektrum)
Gemäß ISO 13655:2017:
Automatisch mit Kalibrierstandard
Mittel :0,25 ΔE*ab, Max: 0,45 ΔE*ab (M3 0,55 ΔE*ab); Messungen
mit X-Rite Standard bei einer Temperatur von 23 °C +/- 1 °C und
40-60% rel. Luftfeuchtigkeit für alle Messungen auf 12 BCRA-
Kacheln und einem Weißstandard (D50, 2°)
0,02 ΔE*ab, (Standardabweichung) Weiße BCRA
Fehler aus dem Mittelwert von 20 Messungen alle 5 Sekunden.
+/-0,01 D für CMYK-Messungen
Maximal: 112 cm
10 bis 35 °C
max. 30-85% rel. Luftfeuchtigkeit (nicht kondensierend)
-20 bis +50 °C
USB
USB-C (mit Adapter für die Verbindung mit USB-A-Schnittstellen)
Wi-Fi
Unterstützung von 802.11 b/g/n
Unterstützung von 2,4 GHz (nur ISM-Band)
Unterstützung von IEEE 802.11 WEP, WPA, WPA2, WPA2-Enterprise
Security
M0: NoFilter
M1: (Methode 2) D50
M2: UVCut
M3: Pol (nicht in eXact 2 Xp).
X - R i t e e X a c t 2
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