Hameg Instruments HM604-3 Bedienungsanleitung Seite 22

he ,,Tests direkt in der Schaltung"). Außer den INTENS-,
FOCUS-, TR, X-POS.-Einstellern und der X-MAG.-Taste ha-
ben die übrigen Bedienelemente keinen Einfluß auf diesen
Testbetrieb. Für die Verbindung des Testobjekts mit den
COMP. TESTER-Buchsen sind zwei einfache Meßschnüre mit
4mm-Bananensteckern erforderlich. Nach beendetem Test
kann durch erneutes Betätigen der COMP. TESTER-Taste der
normale Oszilloskop-Betrieb übergangslos fortgesetzt wer-
den.
Wie im Abschnitt SICHERHEIT beschrieben, sind alle
Meßanschlüsse (bei einwandfreiem Betrieb) mit dem Netz-
schutzleiter verbunden, also auch die COMP. TESTER-Buch-
sen. Für den Test von Einzelbauteilen (nicht in Geräten bzw.
Schaltungen befindlich) ist dies ohne Belang, da diese Bau-
teile nicht mit dem Netzschutzleiter verbunden sein können.
Sollen Bauteile getestet werden die sich in Testschaltungen
bzw. Geräten befinden, müssen die Schaltungen bzw. Gerä-
te unter allen Umständen vorher stromlos gemacht werden.
Soweit Netzbetrieb vorliegt ist auch der Netzstecker des Test-
objektes zu ziehen. Damit wird sichergestellt, daß eine Ver-
bindung zwischen Oszilloskop und Testobjekt über den
Schutzleiter vermieden wird. Sie hätte falsche Testergebnisse
zur Folge.
Nur entladene Kondensatoren dürfen getestet werden!
Das Testprinzip ist von bestechender Einfachheit. Ein im
HM604-3 befindlicher Sinusgenerator erzeugt eine Sinus-
spannung, deren Frequenz 50Hz (±10%) beträgt. Sie speist
eine Reihenschaltung aus Prüfobjekt und eingebauten Wi-
derstand. Die Sinusspannung wird zur Horizontalablenkung
und der Spannungsabfall am Widerstand zur Vertikalablenkung
benutzt.
Ist das Prüfobjekt eine reelle Größe (z.B. ein Widerstand),
sind beide Ablenkspannungen phasengleich. Auf dem Bild-
schirm wird ein mehr oder weniger schräger Strich darge-
stellt. Ist das Prüfobjekt kurzgeschlossen, steht der Strich
senkrecht. Bei Unterbrechung oder ohne Prüfobjekt zeigt sich
eine waagerechte Linie. Die Schrägstellung des Striches ist
ein Maß für den Widerstandswert. Damit lassen sich
ohmische Widerstände zwischen 20Ω und 4,7kΩ testen.
Kondensatoren und Induktivitäten (Spulen, Drosseln, Trafo-
wicklungen) bewirken eine Phasendifferenz zwischen Strom
und Spannung, also auch zwischen den Ablenkspannungen.
Das ergibt ellipsenförmige Bilder. Lage und Öffnungsweite
der Ellipse sind kennzeichnend für den Scheinwiderstands-
wert bei einer Frequenz von 50Hz. Kondensatoren werden
im Bereich 0,1µF bis 1000µF angezeigt.
Eine Ellipse mit horizontaler Längsachse bedeutet eine hohe
Impedanz (kleine Kapazität oder große Induktivität).
Eine Ellipse mit vertikaler Längsachse bedeutet niedrige Im-
pedanz (große Kapazität oder kleine Induktivität).
Eine Ellipse in Schräglage bedeutet einen relativ großen
Verlustwiderstand in Reihe mit dem Blindwiderstand.
Bei Halbleitern erkennt man die spannungsabhängigen
Kennlinienknicke beim Übergang vom leitenden in den nicht-
leitenden Zustand. Soweit das spannungsmäßig möglich ist,
werden Vorwärts- und Rückwärts-Charakteristik dargestellt
(z.B. bei einer Z-Diode unter 12V). Es handelt sich immer um
eine Zweipol-Prüfung; deshalb kann z.B. die Verstärkung ei-
nes Transistors nicht getestet werden, wohl aber die einzel-
nen Übergänge B-C, B-E, C-E. Da der Teststrom nur einige
mA beträgt, können die einzelnen Zonen fast aller Halbleiter
zerstörungsfrei geprüft werden. Eine Bestimmung von Halb-
leiter-Durchbruch- und Sperrspannung >12V ist nicht mög-
lich. Das ist im allgemeinen kein Nachteil, da im Fehlerfall in
der Schaltung sowieso grobe Abweichungen auftreten, die
eindeutige Hinweise auf das fehlerhafte Bauelement geben.
Änderungen vorbehalten
Recht genaue Ergebnisse erhält man beim Vergleich mit si-
cher funktionsfähigen Bauelementen des gleichen Typs und
Wertes. Dies gilt insbesondere für Halbleiter. Man kann da-
mit z.B. den kathodenseitigen Anschluß einer Diode oder Z-
Diode mit unkenntlicher Bedruckung, die Unterscheidung
eines p-n-p-Transistors vom komplementären n-p-n-Typ oder
die richtige Gehäuseanschlußfolge B-C-E eines unbekannten
Transistortyps schnell ermitteln.
Typ: Normale Diode
Pole: Kathode-Anode
Anschlüsse: (CT - Masse)
Pole: B-E
Anschlüsse: (CT - Masse)
Pole: B-E
Anschlüsse: (CT - Masse)
Zu beachten ist hier der Hinweis, daß die Anschlußumpolung
eines Halbleiters (Vertauschen von COMP. TESTER-Buchse
mit Masse-Buchse) eine Drehung des Testbilds um 180° um
den Rastermittelpunkt der Bildröhre bewirkt.
Wichtiger noch ist die einfache Gut-/Schlecht-Aussage über
Bauteile mit Unterbrechung oder Kurzschluß, die im Service-
Betrieb erfahrungsgemäß am häufigsten benötigt wird.
Die übliche Vorsicht gegenüber einzelnen MOS-Bauelemen-
ten in Bezug auf statische Aufladung oder Reibungselektrizi-
tät wird dringend angeraten. Brumm kann auf dem Bildschirm
sichtbar werden, wenn der Basis- oder Gate-Anschluß eines
einzelnen Transistors offen ist, also gerade nicht getestet
wird (Handempfindlichkeit).
Tests direkt in der Schaltung sind in vielen Fällen möglich,
aber nicht so eindeutig. Durch Parallelschaltung reeller und/
oder komplexer Größen - besonders wenn diese bei einer
Frequenz von 50Hz relativ niederohmig sind - ergeben sich
meistens große Unterschiede gegenüber Einzelbauteilen. Hat
man oft mit Schaltungen gleicher Art zu arbeiten (Service),
dann hilft auch hier ein Vergleich mit einer funktionsfähigen
Schaltung. Dies geht sogar besonders schnell, weil die
Vergleichsschaltung gar nicht unter Strom gesetzt werden
muß (und darf!). Mit den Testkabeln sind einfach die identi-
schen Meßpunktpaare nacheinander abzutasten und die
Schirmbilder zu vergleichen. Unter Umständen enthält die
Testschaltung selbst schon die Vergleichsschaltung, z.B. bei
Stereo-Kanälen, Gegentaktbetrieb, symmetrischen Brücken-
schaltungen. In Zweifelsfällen kann ein Bauteilanschluß ein-
seitig abgelötet werden. Genau dieser Anschluß sollte dann
Hochspann.-Diode Z-Diode 12V
Kathode-Anode Kathode-Anode
(CT - Masse) (CT - Masse)
B-C E-C
(CT - Masse) (CT - Masse)
B-C E-C
(CT - Masse) (CT - Masse)
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