X-Rite i1 PRO Benutzerhandbuch Seite 117

Fond utilisé pour les mesures :
Épaisseur maximale du support :
Taille minimale de patch en mode de
Accord inter-instrument :
Répétabilité à court terme :
Mesure
d'émission :
Répétabilité à court terme :
Mesure de
l'éclairage
ambiant :
Interface :
OBC : Correction des azurants optiques avec le logiciel i1Profiler
Étalonnage : Manuel sur le carreau en céramique blanc externe
blanc, conforme à la norme ISO 13655:2009 (pour les mesures sur le
panneau de support)
3 mm (0,12 pouce) sur le panneau de support
7 x 10 mm (0,28 x 0,39 pouce) (hauteur x largeur) avec la règle
balayage : 10 x 10 mm (0,39 x 0,39 pouce) (hauteur x largeur) sans la règle
0,4 ∆E94* en moy., 1,0 ∆E94* max.
(déviation par rapport au standard de fabrication X-Rite à une tempéra-
ture de 23 °C [73,4 °F] sur 12 carreaux BCRA [D50, 2°])
0,1 ∆E94* sur blanc (D50, 2°, moyenne de 10 mesures toutes les 3 s
sur le blanc)
Radiance spectrale (mW/nm/m
Plage de mesure : 0,2 - 1200 cd/m
x,y ±0,002 typ. (5000 K, 80 cd/m
irradiance spectrale (mW/nm/m
lumière à correction de cosinus
USB 1.1
2
/sr), luminance (cd/m
2
sur un moniteur LCD type
2
)
2
), illuminance [lux], tête de mesure de
FR
2
)
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