技术规格 - X-Rite i1 PRO Benutzerhandbuch

技术规格
光谱引擎：
扫描模式下的测量频率：
光学：
反射测量：
306
i1® 技术（全息衍射光栅，采用 128 像素二极管阵列)和内
置波长检查
光谱范围： 380 - 730 纳米
物理取样间隔： 3.5 纳米
光学分辨率： 10 纳米
反射光谱曲线报告: 380 纳米 ...730 纳米（10 纳米步进）
200 次/秒
测量几何设备： 45°/0° 环形照明光学元件，ISO 13655:2009
测量光圈： 4.5 毫米 (0.18")直径(扫描时有效测量光圈取决于色块的尺
寸和测量速度)
光斑大小： 3.5 毫米 (0.14")
光源： 充气钨丝灯（光源 A 类）和 UV LED
光谱反射率[无穷小]
测量条件： 包含 UV - ISO 13655:2009 测量条件
M0 D50 - ISO - ISO 13655:2009 测量条件 M1
不包含 UV 滤镜 - ISO 13655:2009 测量条件 M2
OBC： 荧光增白剂补偿 (OBC) 和 i1Profiler 软件
校准： 外部瓷白参考手册