Messung der Laufzeitverzögerung
Sie vermuten, dass das Speicher-Timing in einem Mikroprozessor-
Schaltkreis nicht optimal ist. Richten Sie das Oszilloskop so ein,
dass sich die Laufzeitverzögerung zwischen dem chip-select-Signal
und den ausgegebenen Daten des Speicherbausteins messen lässt.
Benutzerhandbuch des Digitaloszilloskops der Serie TPS2000
Anwendungsbeispiele
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