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SPECORD PLUS
10.1.3 SPECORD 200 PLUS
Streulicht 340 nm (NaNO
Rauschen der Basislinie bei 500nm (RMS)
Abweichung der Basislinie (200 ... 1000 nm)
Langzeitstabilität bei 500 nm
Unkorrigierte 100% Transmissionslinie
(Min./Max; 200 ... 1000 nm)
Registriergeschwindigkeit
Minimale Integrationszeit
Minimales Datenintervall
* unter Berücksichtigung der Toleranzen der verwendeten Standards
** Merck 1.08164.0001
Optik
Wellenlängenbereich
Photometrischer Anzeigebereich
Photometrischer Messbereich
Spektrale Bandbreite
Spektrales Auflösungsvermögen
Toluol/Hexan bei 20 ... 25 °C
Wellenlängenrichtigkeit
(Deuteriumlinie bei 486 nm)
Wellenlängenrichtigkeit
(Deuteriumlinie bei 656,1 nm)
Wellenlängenrichtigkeit
(Holmiumoxidfilter bei 360,9 nm)*
Wellenlängenreproduzierbarkeit
(Holmiumoxidfilter bei 360,9 nm)*
Transmissionsnullpunkt
(200 ... 1000 nm)
Photometrische Richtigkeit Vis
(Neutralglasfilter Hellma F4 bei 546 nm )*
Photometrische Richtigkeit UV
(Kaliumdichromat)*
Photometrische Richtigkeit
(Kaliumdichromat bei 430 nm)*
Photometrische Reproduzierbarkeit
(Neutralglasfilter Hellma F4 bei 546 nm)*
Streulicht 198 nm (KCl)**
Streulicht 220 nm (NaI)
Streulicht 240 nm (NaI)
Streulicht 340 nm (NaNO
Rauschen der Basislinie bei 500nm (RMS)
Abweichung der Basislinie (200 ... 1000 nm)
Langzeitstabilität bei 500 nm
Unkorrigierte 100% Transmissionslinie
(Min./Max; 200 ... 1000 nm)
Registriergeschwindigkeit
)
≤ 0,02 %T
2
≤ 0,0001 A
± 0,0005 A
± 0,0005 A/h
300 ... 900 %T
Bis zu 12000 nm/min
0,001 s
0,02 nm
Zweistrahlphotometer mit Festspalt
190 ... 1100 mm
-9 ... 9 A
-3 ... 3 A
1,4 nm
1,6 ... 1,8
± 0,2 nm
± 0,1 nm
± 0,5 nm
≤ 0,02 nm
± 0,05 %T
± 0,003 A
± 0,010 A
± 0,010 A
≤ 0,0005 A
≤ 0,3 %T
≤ 0,03 %T
≤ 0,03 %T
)
≤ 0,02 %T
2
≤ 0,0001 A
± 0,0005 A
± 0,0005 A/h
60 ... 160 %T
Bis zu 12000 nm/min
Spezifikationen
41
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