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Konformität IEC 60601-1-2
Emissionen
CISPR 11, Klasse A, Gruppe 1
Oberschwingungsbelastung gemäß
IEC 61000-3-2 Klasse A
Spannungsschwankungen und Flicker gemäß
IEC 61000-3-3 Klasse A, Abbildungen 3-7
Störfestigkeit • Elektrostatische Entladung IEC 61000-4-2:
Kontaktentladung +/- 8 kV,
Luftentladung +/- 15 kV
• Hochfrequente elektromagnetische Felder
IEC 61000-4-3:
80 – 2700 MHz: 10 V/m
• Nähe zu Funkfeldern IEC 61000-4-3:
380 – 5785 MHz: 9 V/m; 28 V/m
• Schnelle transiente elektrische
Störgrößen/Burst IEC 61000-4-4:
± 2 kV: Netzleitungen
• Stoßspannungen IEC 61000-4-5:
± 1 kV Leitung gegen Leitung
± 2 kV Leitung gegen Masse
• Leitungsgeführte Störgrößen, induziert durch
hochfrequente Felder IEC 61000-4-6:
10 V rms
• Magnetfelder mit energietechnischen
Frequenzen IEC 61000-4-8:
30 A/m
• Spannungseinbrüche, Kurzzeitunterbrechungen
und Spannungsschwankungen IEC 61000-4-11:
gemäß IEC 60601-1-2:2014
• Akzeptable Betriebsbedingungen/Reaktionen:
• Flimmern/Rauschen am HD Monitor
• Unterbrechung am HD Monitor
• Spezifische Konformitätskriterien für den
Test in Bezug auf Spannungseinbrüche und
Unterbrechungen:
• Bei dem Gerät ist eine Abweichung bei den
Störfestigkeitspegeln (0 % der Nenn-
spannung für 5 s) zulässig, sofern das Gerät
sicher bleibt, keine Komponenten ausfallen
und durch Bedienerintervention eine
Wiederherstellung des Zustands vor dem
Test möglich ist.
14.10 Erfüllte Normen
CE-Konformität
• Medizinische elektrische Geräte; Teil 1: Allgemeine
Festlegungen für die Sicherheit in IEC 60601-1; EN 60601-1;
UL 60601-1;
CAN/CSA C22.2 NO 60601-1-14:2014.
• Elektromagnetische Verträglichkeit
IEC 60601-1-2; EN 60601-1-2; EN 61000-3-2; IEC 61000-3-2.
• Weitere angewendete harmonisierte Normen: IEC 62366,
IEC60825-1, EN60825, IEC 62471, EN62471, EN 980.
• Das Managementsystem der Medical Division der
Leica Microsystems (Schweiz) AG ist nach der internationalen
Norm ISO 13485 in Bezug auf Qualitätsmanagement und
Qualitätssicherung zertifiziert.
14.11 Konfigurationen und Gewichte
WARNUNG
Verletzungsgefahr durch herunterschwenkendes
Operationsmikroskop!
Gesamtgewicht der Ladung anhand der "Gewichtstabelle",
Kapitel 14.13, ermitteln.
Für die Stative gilt ab den Schnittstellen des Mikroskops folgende
maximale Zuladung:
Stativ
Max. Zuladung
M822 / Ref. 10 743 504 / Version 02
Bei der Bestückung mit Komponenten und Zubehör
X
die zulässige max. Zuladung nicht überschreiten.
Gesamtgewicht anhand der "Liste der Gewichte
X
balancierbarer Konfigurationen" in Kapitel 14.13
überprüfen.
F40
12,2 kg
Technische Daten
F20
CT40
11,5 kg
12,2 kg
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