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6.2.4 Gestrahlte Oberflächen
Aufgrund
der
physikalischen
Messergebnisse von Schichtdickenmessungen zu hoch. Der Mittelwert der Schichtdicken über
die Spitzen kann wie folgt ermittelt werden:
Methode A:
•
Das Messgerät sollte entsprechend Kapitel 6.2.2 oder 6.2.3 kalibriert werden. Nutzen
Sie ein ebenes Kalibriermuster mit dem gleichen Biegeradius und aus dem gleichen
Material wie das spätere Messobjekt.
•
Machen Sie ungefähr 10 Messungen auf dem unbeschichteten gestrahlten Muster, um
einen Mittelwert Xo zu ermitteln.
•
Danach machen Sie ungefähr 10 Messungen auf dem beschichteten gestrahlten
Muster, um einen Mittelwert Xm zu ermitteln.
•
Die Differenz zwischen diesen beiden Mittelwerten ist die mittlere Schichtdicke Xeff über
die Spitzen. Die größere Standardabweichung s der beiden Werte Xo und Xm muss in
die Berechnung einfließen: Xeff = (Xm-Xo) ± s
Methode B:
•
Führen Sie 10 Nullpunktkalibrierungen auf einem gestrahlten, unbeschichteten
Kalibriermuster durch. Führen Sie dann eine Kalibrierung mit den Kalibrierfolien auf dem
unbeschichteten
verschiedenen Folien mit einer maximalen Dicke von 50 Mikron bestehen und grob mit
der erwarteten Dicke übereinstimmen.
•
Der Messwert kann direkt vom Display abgelesen werden und sollte über 5 bis 10
Messungen gemittelt werden. Die Statistikfunktion ist hier nützlich.
BETRIEBSANLEITUNG
Eigenschaften
Material
durch.
Der
19
von
gestrahlten
Oberflächen
Kalibrierfoliensatz
sollte
sind
die
aus
mehreren
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