Conrad M-4660M Bedienungsanleitung Seite 68

5.7 Frequentiemeting
Voor het meten van en frequentie handelt u als volgt:
1. Verbind het zwarte meetsnoer met de COM-bus (11) en het rode
meetsnoer met de V/Ω-bus (12).
2. Stel de meetfunktieschakelaar (7) in op "FREQ" en verbind de meet-
punten met het meetobject (generator e.d.).
Let op!
Denk beslist aan de max. ingangsgroottes! Sluit geen spanningen aan
>max. 250 VDC resp. VACrms (rms = eff). Bij spanningen > 25 VAC resp.
35 VDC bestaat levensgevaar bij aanraking!
Schakel tijdens de meting niet over op een andere meetfunktie resp. op
een ander bereik. De gevoelige electronica binnenin de meter kan daar-
door kapot gaan, waardoor u weer gevaar loopt!
Bij spanningen < ca. 50 mVrms (gemeten bij 1 KHz) is geen frequentie-
meting mogelijk.
Bij de frequentiemeting wordt op het middelste kleine display de hoogte
van de wisselspanning in V getoond. Op het rechter kleine display
wordt de decibelwaarde van de wisselspanning getoond.
Afb.5 frequentiemeting zie uitklappagina
5.8 Transistortest
Let op!
De transistorvoet is niet beschermd tegen overbelasting.
Voor het meten van de versterking van een transistor handelt u als volgt:
1. Stel de meetfunktieschakelaar in op hFE.
2. Steek de te testen transistor in de meetvoet. Let daarbij op de vol-
gende punten:
130
Aanwijzingen
• Let op de aansluitvolgorde (b.v. C-B-E) van het meetobject (staan in de
transistorvergelijkingstabel/-lijst).
• Enkele transistortypes bevatten basis-emitterweerstanden, waardoor
de meting vervalst kan worden.
• De hFE-meetwaarde is niet absoluut precies. Deze waarde zegt alleen
maar of de transistor werkt of niet. De daadwerkelijke versterking van
een transistor hangt af van de werkstroom. Deze multimeter kan een
basisstroom leveren tot 10 uA, bij een Uce van 2,8 V. De bij een meting
wegstromende kollektorstroom wordt gemeten en daaruit wordt de
hFE-waarde berekend.
• Transistoren die in een schakeling ingebouwd zijn kunnen niet geme-
ten worden.
• U kunt met deze multimeter geen hFE-waarde meten van FET's of van
andere unipolaire transistoren.
• Als de aansluitings-"pootjes" van de meetobjecten niet in de voet pas-
sen (te "dik"), probeer het dan niet met geweld, want daardoor kan
de voet beschadigd worden.
• De hFE-meting reageert op temperatuursschommelingen. Zodra u de
transistor aanraakt en in de voet steekt en hem met de vingers
opwarmt, kan de meetwaarde veranderen. Als dit resulteert in een
instabiele meetwaarde, dan verwijdert u de transistor en laat hem tot
kamertemperatuur afkoelen.
Tijdens de transistorparametermeting hFE zijn ook de drie subdisplays
aktief. Op het linker subdisplay verschijnt de huidige meetwaarde met
een vertraging van 1 sekonde, op het middelste kleine display met een
vertaging van 2 sekonden en op het rechter subdisplay met een vertra-
ging van 3 sekonden.
5.9 Logic-meting
Deze meetfunktie dient voor het bepalen van logic-niveau's in digitale
schakelingen (5-V- of 12-V- of 18-V-logic o.d.). Bij de logic funktie kunt u
de volgende "toestanden" vaststellen:
• Het testpunt geeft een High-niveau >70% van Vcc (of V++ of VC of V+ o.d.)
131