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Olympus MX63 Bedienungsanleitung Seite 25

Inspektionsmikroskope für halbleiter/fpd/industrielle anwendungen
Inhaltsverzeichnis

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Mikroskopieverfahren
Module
Beleuchtungs-
U-LLG150
einrichtungen
U-LLG300
MX-LLHECBL
MX-TILLA
MX-TILLB
LG-SF
Objektivrevolver U-P5REMC
U-D6REMC
U-D5BDREMC
U-P5BDREMC
U-D6BDREMC
Objektivad-
BD-M-AD
apter
Tisch
MX-SIC6R2
MX-SIC8R
MX-SIC1412R2
Tischoption
BH3-WHP6
BH2-WHR43
BH2-WHR54
BH2-WHR65
BH3-SP6
MX-WHPR86
BH3-SPG6
MX-WHPR128
MX-SPG1412
MX-MH6
Schieber
U-25ND6
für Auflicht-
U-25ND25
beleuchtung
U-25ND50
U-25LBD
U-25IF550
U-25Y48
U-25L42
U-25FR
U-25LBA
U-25
U-BP1100IR
U-BP1200IR
Schieber für
U-DICR
differentiellen
U-DICRHC
Interferenz-
U-DICRHC
kontrast
Reflektiertes Licht
Hellfeld/
Hellfeld Dunkelfeld
Dunkelfeld
simultan
: Kombination möglich (einschließlich Module mit Ein-
schränkungen)
: Kombination unzulässig
: Für die Mikroskopie unnötig
Differen-
tieller
Polarisation
Fluoreszenz
Interferenz-
kontrast
MX63/MX63L
Durchlicht
Infrarot
Hellfeld Polarisation
19

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Diese Anleitung auch für:

Mx63l

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