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Olympus MX63 Bedienungsanleitung Seite 17

Inspektionsmikroskope für halbleiter/fpd/industrielle anwendungen
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MX63L Erscheinungsbild, Einblickhöhe und Schwerpunkt
Einblickhöhe
338 (Schwenkwinkel 20°)
Seitenansicht
des Mikroskops
Unterseite des Mikroskopstativs
Der Schwerpunkt ist eine ungefähre Position in der Standardkombination für Durchlichtmikroskopie. Bitte
TIPP
beachten, dass die Position je nach Gewicht des Objekts, Tischposition und anderen kombinierten Modu-
len variieren kann.
(Größe des Schwerpunktes)
MX63/MX63L
Einheit: mm
Größe des
Schwerpunktes
11

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Diese Anleitung auch für:

Mx63l

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