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Olympus MX63 Bedienungsanleitung Seite 16

Inspektionsmikroskope für halbleiter/fpd/industrielle anwendungen
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MX63 Erscheinungsbild, Einblickhöhe und Schwerpunkt
Einblickhöhe
Seitenansicht des Mikroskops
Unterseite des Mikroskopstativs
TIPP
Der Schwerpunkt ist eine ungefähre Position in der Standardkombination für Durchlichtmikroskopie. Bitte
beachten, dass die Position je nach Gewicht des Objekts, Tischposition und anderen kombinierten Modu-
len variieren kann.
10
338 (Schwenkwinkel 20°)
(Größe des Schwerpunktes)
Einheit: mm
Größe des
Schwerpunktes

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Diese Anleitung auch für:

Mx63l

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