Ansprechzeit Profil Schnell 2000 Μf; Ableitkapazität - Bender ISOMETER iso1685DP–425 Handbuch

Technische Daten
12.2.5 Ansprechzeit Profil Schnell 2000 µF
Ansprechzeiten in Abhängigkeit vom Ansprechwert und der Netzableitkapazität nach IEC 61557-8
1000
100
10
0,1 1
Ansprechwert Ran [k ]
12.2.6 Ableitkapazität
Die Ableitkapazität und die Größe des Isolationswiderstandes stehen in Abhängigkeit.
Folgende Diagramme zeigen den Zusammenhang.
Beispiel:
Isolationswiderstand 50 kOhm => min. messbare Ableitkapazität 35 μF
Isolationswiderstand 5 kOhm => min. messbare Ableitkapazität 210 μF
48
(Messprofil: 2000μF, schnell)
10 100
Technische Daten
Einschränkung für die Bestimmung der Ableitkapazität (iso1685DP; isoHV1685D)
1000
100
 &
 &
 &
 &
 &
10
1
0,5
Einschränkung für die Bestimmung der Ableitkapazität (isoLR1685DP)
1000
100
10
1
0,5
5 5 0
Fehlerwiderstand [kΩ]
5 5 0 5 0 0 5 0 0 0
Fehlerwiderstand [kΩ]
isoxx1685Dx-x25_D00272_06_M_XXDE/04.2020
5 0 0
5 0 0 0 0 5 0 0 0 0 0