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Komponenten-Test

Nur wenn DC-Triggerkopplung vorlag, wird nicht auf AC-
Triggerkopplung geschaltet und die automatische Triggerung
erfolgt ohne Spitzenwerterfassung.
Die mit AUTO SET vorgegebenen Betriebsbedingungen über-
schreiben die vorherigen Einstellungen. Falls unkalibrierte
Bedingungen vorlagen, wird durch AUTO SET elektrisch
automatisch in die kalibrierte Einstellung geschaltet. An-
schließend kann die Bedienung wieder manuell erfolgen.
Die Ablenkkoeffizienten 1mV/cm und 2mV/cm werden, we-
gen der reduzierten Bandbreite in diesen Bereichen, im
AUTO SET-Betrieb nicht gewählt.
Achtung:
Liegt ein pulsförmiges Signal an, dessen Tastverhältnis
einen Wert von ca. 400:1 erreicht oder überschreitet,
ist in den meisten Fällen keine automatische Signal-
darstellung mehr möglich. Der Y-Ablenkkoeffizient ist
dann zu klein und der Zeit-Ablenkkoeffizient zu groß.
Daraus resultiert, daß nur noch die Strahllinie darge-
stellt wird und der Puls nicht sichtbar ist.
In solchen Fällen empfiehlt es sich, auf Normaltriggerung
umzuschalten und den Triggerpunkt ca. 5mm über oder unter
die Strahllinie zu stellen. Leuchtet dann die Triggeranzeige-
LED, liegt ein derartiges Signal an. Um das Signal sichtbar zu
machen, muß zuerst ein kleinerer Zeit-Ablenkkoeffizient und
danach ein größerer Y-Ablenkkoeffizient gewählt werden.
Dabei kann sich allerdings die Strahlhelligkeit so stark verrin-
gern, daß der Puls nicht sichtbar wird.
Komponenten-Test
Gerätebezogene Informationen, welche die Bedienung und
die Meßanschlüsse betreffen, sind dem Absatz CT (41) unter
"Bedienelemente und Readout" zu entnehmen.
Das Oszilloskop verfügt über einen eingebauten Komponen-
ten-Tester. Der zweipolige Anschluß des zu prüfenden Bau-
elementes erfolgt über die dafür vorgesehenen Buchsen. Im
Komponententest-Betrieb sind sowohl die Y-Vorverstärker
wie auch der Zeitbasisgenerator abgeschaltet. Jedoch dürfen
Signalspannungen an den auf der Frontplatte befindlichen
BNC-Buchsen weiter anliegen, wenn einzelne nicht in Schal-
tungen befindliche Bauteile (Einzelbauteile) getestet werden.
Nur in diesem Fall müssen die Zuleitungen zu den BNC-
Buchsen nicht gelöst werden (siehe "Tests direkt in der
Schaltung"). Außer den INTENS.-, FOCUS- und X-POS.-
Einstellern haben die übrigen Oszilloskop-Einstellungen kei-
nen Einfluß auf diesen Testbetrieb. Für die Verbindung des
Testobjekts mit dem Oszilloskop sind zwei einfache Meß-
schnüre mit 4mm-Bananensteckern erforderlich.
Wie im Abschnitt SICHERHEIT beschrieben, sind alle
Meßanschlüsse (bei einwandfreiem Betrieb) mit dem Netz-
schutzleiter verbunden, also auch die Buchsen für den
Komponententester. Für den Test von Einzelbauteilen (nicht
in Geräten bzw. Schaltungen befindlich) ist dies ohne Belang,
da diese Bauteile nicht mit dem Netzschutzleiter verbunden
sein können.
Sollen Bauteile getestet werden, die sich in Testschaltungen
bzw. Geräten befinden, müssen die Schaltungen bzw. Geräte
unter allen Umständen vorher stromlos gemacht werden.
Soweit Netzbetrieb vorliegt, ist auch der Netzstecker des
Testobjektes zu ziehen. Damit wird sichergestellt, daß eine
Verbindung zwischen Oszilloskop und Testobjekt über den
Schutzleiter vermieden wird. Sie hätte falsche Testergebnisse
zur Folge.
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Nur entladene Kondensatoren dürfen getestet
werden!
Das Testprinzip ist von bestechender Einfachheit. Ein im
Oszilloskop befindlicher Sinusgenerator erzeugt eine Sinusspan-
nung, deren Frequenz 50Hz (±10%) beträgt. Sie speist eine
Reihenschaltung aus Prüfobjekt und eingebautem Widerstand.
Die Sinusspannung wird zur Horizontalablenkung und der Span-
nungsabfall am Widerstand zur Vertikalablenkung benutzt.
Ist das Prüfobjekt eine reelle Größe (z.B. ein Widerstand), sind
beide Ablenkspannungen phasengleich. Auf dem Bildschirm
wird ein mehr oder weniger schräger Strich dargestellt. Ist
das Prüfobjekt kurzgeschlossen, steht der Strich senkrecht.
Bei Unterbrechung oder ohne Prüfobjekt zeigt sich eine
waagerechte Linie. Die Schrägstellung des Striches ist ein
Maß für den Widerstandswert. Damit lassen sich ohmische
Widerstände zwischen 20Ω und 4,7kΩ testen. Kondensato-
ren und Induktivitäten (Spulen, Drosseln, Trafowicklungen)
bewirken eine Phasendifferenz zwischen Strom und Span-
nung, also auch zwischen den Ablenkspannungen. Das ergibt
ellipsenförmige Bilder. Lage und Öffnungsweite der Ellipse
sind kennzeichnend für den Scheinwiderstandswert bei einer
Frequenz von 50Hz. Kondensatoren werden im Bereich 0,1µF
bis 1000µF angezeigt.
• Eine Ellipse mit horizontaler Längsachse bedeutet eine
hohe Impedanz (kleine Kapazität oder große Induktivität).
• Eine Ellipse mit vertikaler Längsachse bedeutet niedrige
Impedanz (große Kapazität oder kleine Induktivität).
• Eine Ellipse in Schräglage bedeutet einen relativ großen
Verlustwiderstand in Reihe mit dem Blindwiderstand.
Bei Halbleitern erkennt man die spannungsabhängigen
Kennlinienknicke beim Übergang vom leitenden in den
nichtleitenden Zustand. Soweit das spannungsmäßig mög-
lich ist, werden Vorwärts- und Rückwärts-Charakteristik
dargestellt (z.B. bei einer Z-Diode unter 10V). Es handelt
sich immer um eine Zweipol-Prüfung; deshalb kann z.B. die
Verstärkung eines Transistors nicht getestet werden, wohl
aber die einzelnen Übergänge B-C, B-E, C-E. Da der Test-
strom nur einige mA beträgt, können die einzelnen Zonen
fast aller Halbleiter zerstörungsfrei geprüft werden. Eine
Bestimmung von Halbleiter-Durchbruch- und Sperr-
spannung >10V ist nicht möglich. Das ist im allgemeinen
kein Nachteil, da im Fehlerfall in der Schaltung sowieso
grobe Abweichungen auftreten, die eindeutige Hinweise
auf das fehlerhafte Bauelement geben.
Recht genaue Ergebnisse erhält man beim Vergleich mit
sicher funktionsfähigen Bauelementen des gleichen Typs
und Wertes. Dies gilt insbesondere für Halbleiter. Man
kann damit z.B. den kathodenseitigen Anschluß einer
Diode oder Z-Diode mit unkenntlicher Bedruckung, die
Unterscheidung eines p-n-p-Transistors vom komplemen-
tären n-p-n-Typ oder die richtige Gehäuseanschlußfolge B-
C-E eines unbekannten Transistortyps schnell ermitteln.
Änderungen vorbehalten

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