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Band 1
Allgemeine Daten
Einkanalige Architektur 1001
Zweikanalige Architektur 1002
Uni-Probe LB 490
BERTHOLD TECHNOLOGIES GmbH & Co. KG
9.9
Sicherheitstechnische Kennzahlen
Die Ausfallraten der Elektronik wurden durch eine FMEDA nach IEC
61508 ermittelt. Den Berechnungen sind die Bauelemente-Ausfall-
raten nach SN 29500 zugrunde gelegt. Alle Zahlenwerte beziehen
sich auf eine mittlere Umgebungstemperatur während der
Betriebszeit von +40 °C (104 °F). Die Berechnungen stützen sich
weiterhin auf die im Kapitel „Projektierung" genannten Hinweise.
783 Fit
λ
sd
λ
174 Fit
su
λ
427 Fit
dd
λ
74 Fit
du
SFF
>96%
DC
82%
S
DC
85%
D
(Fit = failure in time = 10-9 failures per hour)
Fehlerreaktionszeit T
Reaction
max. Nutzungsdauer des Messsystems für die Sicherheits-
funktion
HFT = 0 (Hardware Fault Tolerance)
PFD
avg
T
= 1 Jahr
<0,032 x 10
Proof
T
= 2 Jahre
<0,064 x 10
Proof
T
= 5 Jahre
<0,160 x 10
Proof
HFT = 1 (Hardware Fault Tolerance)
Abschirmung
mit Strahler
9 Funktionale Sicherheit
Safe detected failure
Safe undetected failure
Dangerous detected failure
Dangerous undetected failure
Safe Failure Fraction
Safe Diagnostic Coverage
Dangerous Diagnostic Coverage
-2
-2
-2
2 Uni-Probes
Behälter
1
1,5 sec
10 Jahre
1 – 73
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Fehlerbehebung
