Prüfungen Der Kristall-Multiplier-Kombination - BERTHOLD TECHNOLOGIES Uni-Probe LB 490 Betriebsanleitung

Band 2
Uni-Probe LB 490
BERTHOLD TECHNOLOGIES GmbH & Co. KG
4 Reparatur, Wartung und Instandhaltung
Strahlers an der Messstelle durchgeführt werden oder besser mit
einem Teststrahler. Die Messergebnisse sind in einer Kurve aufzu-
tragen (Bild 4-11). Der Detektor arbeitet einwandfrei, wenn sich
ein deutlich erkennbares Plateau ergibt; dabei spielt die Lage des
Plateaus innerhalb des Hochspannungsbereichs keine Rolle. Das
Plateau wird automatisch aufgenommen. Siehe hierzu die entspre-
chende Softwarebeschreibung.
1100
1000
900
800
700
I/s
600
500
400
300
200
100
600
Bild 4-11 Plateaukurve eines NaJ-Detektors
Verändert sich die Zählrate mehr als 5% pro 100 Volt Hochspan-
nung oder ist das Plateau kürzer als 50 V, so wird der Szintillations-
zähler instabil arbeiten. In diesem Fall sollte der komplette Detek-
tor oder die Kristall-Multiplier-Kombination ausgetauscht werden.
WICHTIG
Die Strahlenbedingungen müssen während der Plateauaufnahme
konstant sein!
4.14.2 Prüfungen der Kristall-Multiplier-Kombination
Fehler an der Kristall-Multiplier-Kombination machen sich durch ein
zu kleines oder zu steiles Plateau bemerkbar. Diese lassen sich
häufig schon bei einer Sichtprüfung erkennen. Dazu muss die Kris-
tall-Multiplier-Kombination auseinandergenommen werden. Zum
Trennen beider Teile ist die Mu-Metallabschirmung zu entfernen
und der Kristall ist vorsichtig durch seitliches Verschieben vom
Fenster des Multipliers zu lösen. Die optischen Kontaktflächen sind
mit einem weichen Lappen von den noch anhaftenden Silikonölres-
ten zu säubern. Während dieser Arbeiten sollte der Multiplier kei-
nem grellen Licht ausgesetzt werden.
Plateau
900 1200
HIGH VOLTAGE (V)
2
1500
2 – 249