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Oszilloskop-Einstellungen keinen Einfluß auf diesen Testbe-
trieb. Für die Verbindung des Testobjekts mit den COMP.
TESTER-Buchsen sind zwei einfache Meßschnüre mit 4mm-
Bananensteckern erforderlich. Nach beendetem Test kann durch
Auslösen der COMP. TESTER-Taste der Oszilloskop-Betrieb
übergangslos fortgesetzt werden.
Wie im Abschnitt SICHERHEIT beschrieben, sind alle
Meßanschlüsse (bei einwandfreiem Betrieb) mit dem
Netzschutzleiter verbunden, also auch die COMP. TE-
STER-Buchsen. Für den Test von Einzelbauteilen (nicht
in Geräten bzw. Schaltungen befindlich) ist dies ohne
Belang, da diese Bauteile nicht mit dem Netzschutz-
leiter verbunden sein können.
Sollen Bauteile getestet werden die sich in Testschaltungen
bzw. Geräten befinden, müssen die Schaltungen bzw.
Geräte unter allen Umständen vorher stromlos gemacht
werden. Soweit Netzbetrieb vorliegt ist auch der Netz-
stecker des Testobjektes zu ziehen. Damit wird sicherge-
stellt, daß eine Verbindung zwischen Oszilloskop und
Testobjekt über den Schutzleiter vermieden wird. Sie
hätte falsche Testergebnisse zur Folge.
Nur entladene Kondensatoren dürfen getestet werden!
Das Testprinzip ist von bestechender Einfachheit. Ein im
HM403 befindlicher Sinusgenerator erzeugt eine Sinus-
spannung, deren Frequenz 50Hz (±10%) beträgt. Sie speist
eine Reihenschaltung aus Prüfobjekt und eingebauten Wider-
stand. Die Sinusspannung wird zur Horizontalablenkung und
der Spannungsabfall am Widerstand zur Vertikalablenkung
benutzt.
Ist das Prüfobjekt eine reelle Größe (z.B. ein Wider-
stand), sind beide Ablenkspannungen phasengleich. Auf
dem Bildschirm wird ein mehr oder weniger schräger
Strich dargestellt. Ist das Prüfobjekt kurzgeschlossen,
steht der Strich senkrecht. Bei Unterbrechung oder
ohne Prüfobjekt zeigt sich eine waagerechte Linie. Die
Schrägstellung des Striches ist ein Maß für den
Widerstandswert.
Damit lassen sich ohmische Widerstände zwischen 20Ω Ω Ω Ω Ω und
4,7kΩ Ω Ω Ω Ω testen.
Kondensatoren und Induktivitäten (Spulen, Drosseln, Trafo-
wicklungen) bewirken eine Phasendifferenz zwischen Strom
und Spannung, also auch zwischen den Ablenkspannungen.
Das ergibt ellipsenförmige Bilder. Lage und Öffnungsweite
der Ellipse sind kennzeichnend für den Scheinwiderstands-
wert bei einer Frequenz von 50Hz. Kondensatoren werden
im Bereich 0,1µF bis 1000µF angezeigt.
Eine Ellipse mit horizontaler Längsachse bedeutet eine
hohe Impedanz (kleine Kapazität oder große Induktivität).
Eine Ellipse mit vertikaler Längsachse bedeutet niedrige
Impedanz (große Kapazität oder kleine Induktivität).
Eine Ellipse in Schräglage bedeutet einen relativ großen
Verlustwiderstand in Reihe mit dem Blindwiderstand.
Bei Halbleitern erkennt man die spannungsabhängigen
Kennlinienknicke beim Übergang vom leitenden in den nicht-
leitenden Zustand. Soweit das spannungsmäßig möglich ist,
werden Vorwärts- und Rückwärts-Charakteristik darge-
stellt (z.B. bei einer Z-Diode unter ca. 9V). Es handelt sich immer
um eine Zweipol-Prüfung; deshalb kann z.B. die Verstärkung
eines Transistors nicht getestet werden, wohl aber die einzel-
nen Übergänge B-C, B-E, C-E. Da der Teststrom nur einige mA
Änderungen vorbehalten
beträgt, können die einzelnen Zonen fast aller Halbleiter
zerstörungsfrei geprüft werden. Eine Bestimmung von Halb-
leiter-Durchbruch- und Sperrspannung > ca. 9V ist nicht mög-
lich. Das ist im allgemeinen kein Nachteil, da im Fehlerfall in der
Schaltung sowieso grobe Abweichungen auftreten, die ein-
deutige Hinweise auf das fehlerhafte Bauelement geben.
Recht genaue Ergebnisse erhält man beim Vergleich mit
sicher funktionsfähigen Bauelementen des gleichen Typs
und Wertes. Dies gilt insbesondere für Halbleiter. Man kann
damit z.B. den kathodenseitigen Anschluß einer Diode oder Z-
Diode mit unkenntlicher Bedruckung, die Unterscheidung ei-
nes p-n-p-Transistors vom komplementären n-p-n-Typ oder die
richtige Gehäuseanschlußfolge B-C-E eines unbekannten
Transistortyps schnell ermitteln.
Zu beachten ist hier der Hinweis, daß die Anschlußumpolung
eines Halbleiters (Vertauschen von COMP. TESTER-Buchse
mit Masse-Buchse) eine Drehung des Testbilds um 180° um
den Rastermittelpunkt der Bildröhre bewirkt.
Wichtiger noch ist die einfache Gut-/Schlecht-Aussage über
Bauteile mit Unterbrechung oder Kurzschluß, die im Service-
Betrieb erfahrungsgemäß am häufigsten benötigt wird.
Die übliche Vorsicht gegenüber einzelnen MOS-Bauele-
menten in Bezug auf statische Aufladung oder Rei-
bungselektrizität wird dringend angeraten. Brumm kann
auf dem Bildschirm sichtbar werden, wenn der Basis-
oder Gate-Anschluß eines einzelnen Transistors offen
ist, also gerade nicht getestet wird (Handempfindlich-
keit).
Tests direkt in der Schaltung sind in vielen Fällen möglich,
aber nicht so eindeutig. Durch Parallelschaltung reeller und/
oder komplexer Größen - besonders wenn diese bei einer
Frequenz von 50Hz relativ niederohmig sind - ergeben sich
meistens große Unterschiede gegenüber Einzelbauteilen. Hat
man oft mit Schaltungen gleicher Art zu arbeiten (Service),
dann hilft auch hier ein Vergleich mit einer funktionsfähigen
Schaltung. Dies geht sogar besonders schnell, weil die
Vergleichsschaltung gar nicht unter Strom gesetzt werden
Komponenten-Test
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