Technische Daten - X-Rite Ci51 Benutzerhandbuch

C i 5 1 / C i 5 2 S P E K T R A L F O T O M E T E R

Technische Daten

Messgeometrie:
Empfänger:
Spektralbereich:
Spektralintervall:
Messbereich:
Messdauer:
Zwischengerätliche
Übereinstimmung:
Kurzzeitmessstabilität:
Lebensdauer der Lampe:
Stromversorgung:
Datenschnittstelle:
Umgebungstemperatur:
Lagerungstemperatur:
Abmessungen:
Gewicht:
Zubehör:
Nutzung:
Höhe:
Verschmutzungsgrad:
Überspannung:
X-Rite behält sich das Recht vor, diese Angaben ohne vorherige Ankündigung zu ändern.
18
d/8°, DRS-Technologie, 8 mm Betrachtung/14 mm
Beleuchtung
Blau-verstärkte Siliziumphotodioden
400 – 700 nm
10 nm – Messpunkte,
0 – 200% Reflexion
ca. 2 Sekunden
Ci51: 0.30 ∆E* ab , basiert auf 12 BCRA Kacheln (Serie II)
Ci51: 0.50 ∆E* ab max. auf jeder Kachel
Ci52: 0.20 ∆E* ab , basiert auf 12 BCRA Kacheln (Serie II)
Ci52: 0.40 ∆E* ab max. auf jeder Kachel
Ci51: 0,10 ∆E* ab max. auf weißer Kachel,
Standardabweichung (mit Glanzanteil).
Ci52: 0,05 ∆E* ab max. auf weißer Kachel,
Standardabweichung (mit Glanzanteil).
ca. 500.000 Messungen
Netzteil X-Rite Art.nr. SE30-277
USB 2.0
10 bis 40 °C, max. 85 % rel. Luftfeuchtigkeit (nicht
kondensierend)
-20 bis +50 °C
H: 10,9 cm, B: 9,1 cm, L: 21,3 cm
0,88 kg
Kalibrierreferenz, USB-Kabel, Manuals & Utilities CD (mit
Handbuch und Hilfsprogrammen), Netzteil
Nur in Innenräumen
2.000 m
2
Kategorie II
1 0 nm
– Ausgabewerte
(mit Glanzanteil).
(mit Glanzanteil).