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Komponenten-Test
ner Z-Diode unter 10 V). Es handelt sich immer um eine Zweipol-
Prüfung; deshalb kann z.B. die Verstärkung eines Transistors
nicht getestet werden, wohl aber die einzelnen Übergänge B-C,
B-E, C-E. Da der Teststrom nur einige mA beträgt, können die
einzelnen Zonen fast aller Halbleiter zerstörungsfrei geprüft wer-
den. Eine Bestimmung von Halbleiter-Durchbruch- und Sperr-
spannung >10 V ist nicht möglich. Das ist im allgemeinen kein
Nachteil, da im Fehlerfall in der Schaltung sowieso grobe Abwei-
chungen auftreten, die eindeutige Hinweise auf das fehlerhafte
Bauelement geben.
Recht genaue Ergebnisse erhält man beim Vergleich mit sicher
funktionsfähigen Bauelementen des gleichen Typs und Wertes.
Dies gilt insbesondere für Halbleiter. Man kann damit z.B. den
kathodenseitigen Anschluss einer Diode oder Z-Diode mit un-
kenntlicher Bedruckung, die Unterscheidung eines p-n-p-Transis-
tors vom komplementären n-p-n-Typ oder die richtige Gehäuse-
anschlussfolge B-C-E eines unbekannten Transistortyps schnell
ermitteln.
Zu beachten ist hier der Hinweis, dass die Anschlussumpolung
eines Halbleiters (Vertauschen der Messkabel) eine Drehung des
Testbilds um 180° um den Rastermittelpunkt der Bildröhre be-
wirkt.
Wichtiger noch ist die einfache Gut-/Schlecht-Aussage über
Bauteile mit Unterbrechung oder Kurzschluss, die im Service-
Betrieb erfahrungsgemäß am häufigsten benötigt wird. Die übli-
che Vorsicht gegenüber einzelnen MOS-Bauelementen in Bezug
auf statische Aufladung oder Reibungselektrizität wird dringend
angeraten. Brumm kann auf dem Bildschirm sichtbar werden,
wenn der Basis- oder Gate-Anschluss eines einzelnen Transis-
tors offen ist, also gerade nicht getestet wird (Handempfind-
lichkeit).
Tests direkt in der Schaltung sind in vielen Fällen möglich, aber
nicht so eindeutig. Durch Parallelschaltung reeller und/oder kom-
plexer Größen – besonders wenn diese bei einer Frequenz von
50 Hz relativ niederohmig sind – ergeben sich meistens große
Unterschiede gegenüber Einzelbauteilen. Hat man oft mit Schal-
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tungen gleicher Art zu arbeiten (Service), dann hilft auch hier ein
Vergleich mit einer funktionsfähigen Schaltung.
Dies geht sogar besonders schnell, weil die Vergleichsschaltung
nicht unter Strom gesetzt werden muss (und darf!). Mit den
Testkabeln sind einfach die identischen Messpunktpaare
nacheinander abzutasten und die Schirmbilder zu vergleichen.
Unter Umständen enthält die Testschaltung selbst schon die
Vergleichsschaltung, z.B. bei Stereo-Kanälen, Gegentaktbetrieb,
symmetrischen Brückenschaltungen. In Zweifelsfällen kann ein
Bauteilanschluss einseitig abgelötet werden. Genau dieser An-
schluss sollte dann mit dem nicht an der Massebuchse angeschlos-
senen Messkabel verbunden werden, weil sich damit die Brumm-
einstreuung verringert. Die Prüfbuchse mit Massezeichen liegt an
Oszilloskop-Masse und ist deshalb brumm-unempfindlich.
Die Testbilder zeigen einige praktische Beispiele für die Anwen-
dung des Komponenten-Testers.
Abgleich
Nach Aufruf von MAIN MENU > ADJUSTMENT > AUTO
ADJUSTMENT werden mehrere Menüpunkte angezeigt. Sie
können vom Anwender aufgerufen werden und bewirken dann
einen automatischen Abgleich.
Alle Menüpunkte betreffen das Temperaturverhalten des Oszil-
loskops unter extremen Umgebungsbedingungen, wenn die
Umgebungstemperatur stark von ca. 21 °C abweicht, bei der der
Werksabgleich erfolgte. Fehler (z.B. durch das Anlegen zu hoher
Änderungen vorbehalten
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