Komponenten-Test - Hameg Instruments Hm604-2 Bedienungsanleitung

Delay-Anzeige
Die Betriebsarten der Ablenkverzogerung werden mitder
links vom DELAY-Hebelschalterangeordneten LED ange-
zeigt. Schaltet man auf SEARCH, beginntdie Leuchtdiode
zu blinken. Dies soil ein besonderer Hinweis auf den
nichtnormierten Zustand sein. Die Stellungen DELAY und
DEL. TRIG, werden durch stetiges Leuchten angezeigt.
Steht bei Normalbetrieb ohne Ablenkverzogerung der
DELAY-Hebelschalter nicht auf OFF, konnen Fehleinwir-
kungen, wiez.B. StrahlverdunklungoderpartielleAusblen-
dung, entstehen. DaheristdieAnzeigedieserLeuchtdiode
besonders zu beachten.
Komponenten-Test
Der HM604hateinen eingebauten Komponenten-Tester,
der durch Drucken der COMPONENT TESTER-Taste
sofort betriebsbereit ist. Der zweipolige AnschlufS des zu
prufenden Bauelementes erfolgt uber die Isolierbuchse
im Component-Tester-Feld (rechts unterdem Bildschirm)
und uber eine der Masse-Buchsen im Y-Feld. Beigedruck-
ter Component-Tester-Taste sind sowohl die Y-Vor-
verstarker wie auch der Zeitbasisgenerator abgeschaltet.
Jedoch durfen Signalspannungen an den drei Front-BNC-
Buchsen weiter anliegen. Deren Zuleitungen mussen
also nicht gelost werden (siehe aber unten „Tests direkt
in der Schaltung"). AufSer den INTENS.-, FOCUS- und X-
POS.-Kontrollen haben die ubrigen Oszilloskop-Einstel-
lungen keinen Einfluft auf den Testbetrieb. Fur die Verbin-
dung des Testobjekts mit den CT-Buchsen sind zwei
einfache MefSschnure mit 4mm-Bananensteckern erfor-
derlich. Nach beendetem Test kann durch Auslosen der
COMPONENT TESTER-Taste der Oszilloskop-Betrieb
ubergangslos fortgesetzt werden.
Entsprechend der Schutzklasse des HM604 und der
Schutzklasse eventuell uber MeRkabel angescblosse-
ner anderer Netzgerate ist es moglich, daR die mit
Massezeicben versehene Bucbse mit dem Netz-
schutzieiter verbunden, also geerdet ist. Im allgemei-
nen ist das fur den Test einzelner Bauteile ohne
Belang.
Bei Tests in der Schaltung muR letztere unter alien
Umstanden vorher stromlos gemacht werden. Bei
schutzgeerdeter NetzanschluR-Schaltung ist es dazu
erforderlich, den Netzstecker der zu testenden Schal¬
tung zu ziehen, damit auch deren Schutzerdverbin-
dung aufgetrennt ist. Eine doppelte Schutzleiterverbin-
dung wurde zu falschen Testergebnissen fuhren.
Zum Schutz des Komponententesters und des Oszillo-
skops ist in Reihe mit der Component Tester-Buchse eine
Feinsicherung geschaltet. Bei Fehlbedienung, z.B. zu pru-
fendes Gerat nicht vom Netz getrennt, schmilzt sie durch.
Sie darf nur durch eine Sicherung gleichen Typs ersetzt
werden. Dazu muft das Oszilloskop geoffnet sein (siehe
Service-Anleitung 81, ,,Offnen des Gerates"). Die Siche¬
rung befindet sich auf der Unterseite des Gerates.
G-Sicherungseinsatz: Grofte 5x20mm, 250V-; C nach
IEC 127, Bl.ll; DIN 41661. Abschaltung: flink (F), 50mA.
Nur entladene Kondensatoren durfen getestet werden!
Das Testprinzip ist von bestechender Einfachheit. Der
Netztrafoim HM604lieferteinenetzfrequenteSinusspan-
nung, die die Reihenschaltung aus Prufobjekt und einem
eingebauten Widerstand speist. Die Sinusspannung wird
zur Horizontalablenkung und der Spannungsabfall am
Widerstand zur Vertikalablenkung benutzt.
Ist das Prufobjekt eine reelle GroRe (z.B. ein Wider¬
stand), sind beide Ablenkspannungen phasengleich.
Auf dem Bildschirm wird ein mehr oder weniger
schrager Strich dargestellt. Ist das Prufobjekt kurz-
geschlossen, steht der Strich senkrecht. Bei Unterbre-
chung oder ohne Prufobjekt zeigt sich eine waage-
rechte Linie. Die Schragstellung des Striches ist ein
MaRfiirden Widerstandswert Damit lassen sich ohmische
Widerstande zwischen 20Q und 4,7k Q testen.
Kondensatoren und Induktivitaten (Spulen, Drosseln,
Trafowicklungen) bewirken eine Phasendifferenz zwischen
Strom und Spannung, also auch zwischen den Ablenk¬
spannungen. Das ergibt ellipsenformige Bilder. Lage und
Offnungsweite der Ellipse sind kennzeichnend fur den
Scheinwiderstandswertbei Netzfrequenz. Kondensato¬
ren werden im Bereich 0,1pF bis 7000j/Fangezeigt.
Eine Ellipse mit horizontaler Langsachse bedeutet
eine hohe Impedanz (kleine Kapazitat oder groRe
Induktivitat).
Eine Ellipse mit vertikaler Langsachse bedeutet nied-
rige Impedanz (groRe Kapazitat oder kleine Induk¬
tivitat).
Eine Ellipse in Schraglage bedeutet einen relativ gro-
Ren Verlustwiderstand in Reihe mit dem Blindwider-
stand.
BeiHalbleiternerkennt man die spannungsabhangigen
Kennlinienknicke beim Ubergang vom leitenden in den
nichtleitenden Zustand. Soweit das spannungsmaftig
moglich ist, werden Vorwarts- undRiickwarts-Charak-
teristik dargestellt (z.B. bei einerZ-Diode unter 12V). Es
handelt sich immer urn eine Zweipol-Prufung; deshalb
kann z.B. die Verstarkung eines Transistors nicht getestet
werden, wohl aber die einzelnen Ubergange B-C, B-E, C-E.
Da die am Testobjekt anliegende Spannung nur einige
Volt betragt, konnen die einzelnen Zonen fast aller
Halbleiter zerstorungsfrei gepriift werden. Anderer-
seits ist deshalb ein Test der Durchbruch- oder Sperr-
spannung an Halbleitern fur hohe Speisespannung ausge-
schlossen. Das ist im allgemeinen kein Nachteil, da im
Fehlerfall in der Schaltung sowieso grobe Abweichungen
auftreten, die eindeutige Hinweise auf das fehlerhafte
Bauelement geben.
Recht genaue Ergebnisse erhalt man beim Vergleich mit
sicher funktionsfahigen Bauelemen ten desgleichenTyps
und Wertes. Dies gilt insbesondere auch fur Halbleiter. Man
kann damit z.B. den kathodenseitigen Anschlufteiner Diode
oder Z-Diode mit unkenntlicher Bedruckung, die Unter-
scheidung eines p-n-p-Transistors vom komplementaren n-
p-n-Typ oder die richtige Gehauseanschluftfolge B-C-E ei¬
nes unbekannten Transistortyps schnell ermitteln.
Ml6 604-2
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