Delay-Anzeige; Komponenten-Test; M16 - Hameg Instruments Hm604-2 Bedienungsanleitung

Delay-Anzeige

Die Betriebsarten der Ablenkverzögerung
links vom DELAY-Hebelscha Iter angeordneten
zeigt. Schaltet man auf SEARCH, beginnt die Leuchtdiode
zu blinken. Dies sol! ein
nichtnormierten Zustand sein. Die Steilungen DELAY und
DEL. TRIG. werden durch stetiges Leuchten angezeigt.
Steht bei Normalbetrieb
DELAY-Hebelschalter nicht auf OFF, können
kungen, wie z. B. Strahlverdunklung
dung, entstehen. Daher ist die Anzeige dieser Leuchtdiode
besonders zu beachten.

Komponenten-Test

Der HM604 hat einen eingebauten Komponenten-Tester,
der durch Drücken der
sofort betriebsbereit ist. Der zweipolige Anschluß des zu
prüfenden Bauelementes
im Component-Tester-Feld
und über eine der Masse Buchsen im Y Feld. Bei gedrück-
ter Component-Tester-Taste
verstärker wie auch der Zeitbasisgenerator
Jedoch dürfen Signalspannungen
Buchsen weiter anliegen.
also nicht gelöst werden (siehe aber unten ,,Tests direkt
in der Schaltung"). Außer den INTENS.-, FOCUS- und X-
POS.-Kontrollen haben die übrigen OsziIloskop-Einstel-
lungen keinen Einfluß auf den Testbetrieb.
dung des Testobjekts
einfache Meßschnüre
derlich. Nach beendetem
COMPONENT TESTER-Taste
übergangslos fortgesetzt
Entsprechend der Schutzklasse
Schutzklasse eventuell
ner anderer Netzgeräte
Massezeichen versehene
schutzleiter verbunden,
nen ist das für den
Belang.
Bei Tests in der Schaltung
Umständen vorher stromlos
schutzgeerdeter Netzanschluß-Schaltung
erforderlich, den Netzstecker
tung zu ziehen, damit
dung aufgetrennt ist. Eine doppelte Schutzleiterverbin-
dung würde zu falschen
Zum Schutz des Komponententesters
skops ist in Reihe mit der Component Tester-Buchse eine
Feinsicherung geschaltet. Bei Fehlbedienung, Z.B. zu prü-
fendes Gerät nicht vom Netz getrennt, schmilzt sie durch
Sie darf nur durch eine Sicherung gleichen Typs ersetzt
werden. Dazu muß das Oszilloskop geöffnet
Service-AnleitungSl , „Öffnen des Gerätes"). Die Siche-
rung befindet sich auf der Unterseite des Gerätes.
G-Sicherungseinsatz: Größe 5x20mm,
IEC 127, Bl.ll; DIN 41661. Abschaltung:

M16

604-2
werden mit der
besonderer Hinweis
ohne Ablenkverzögerung
Fehleinwir-
Oder partielle Ausblen-
COMPONENT TESTER-Taste
erfolgt über die Isolierbuchse
(rechts unter dem Bildschirm)
sind sowohl die Y-Vor-
abgeschaltet.
an den drei Front-BNC-
Deren Zuleitungen
Für die Verbin-
mit den CT-Buchsen
mit 4mm-Bananensteckern
Test kann durch Auslösen
der OsziIloskop-Betrieb
werden.
des HM604
über Meßkabel angeschlosse-
ist es möglich, daß die mit
Buchse mit dem
also geerdet ist. 1m allgemei-
Test einzelner Bauteile
muß letztere unter allen
gemacht werden.
ist es dazu
der zu testenden
auch deren Schutzerdverbin-
Testergebnissen führen.
und des Oszillo-
sein (siehe
250V—; C nach
flink
Nur entladene
Das Testprinzip
LED ange- Netztrafo im HM604 liefert eine netzfrequente
nung, die die Reihenschaltung
auf den eingebauten Widerstand speist. Die Sinusspannung Wird
zur Horizontalablenkung
Widerstand
der 1st das Prüfobjekt
stand), sind beide Ablenkspannungen
Auf dem
schräger
geschlossen,
chung Oder ohne Prüfobjekt
rechte Linie. Die Schrägstellung
Maßfürden
Widerstände
Kondensatoren
Trafowicklungen) bewirken eine Phasendifferenz zwischen
Strom und Spannungr also auch zwischen den Ablenk-
spannungen. Das ergibt ellipsenförmige
Öffnungsweite der Ellipse sind kennzeichnendfür den
Scheinwiderstandswert
ren werden
müssen Eine Ellipse
eine hohe Impedanz
Induktivität).
Eine Ellipse mit vertikaler
rige Impedanz
sind zwei
tivität).
erfor-
Eine Ellipse in Schräglage
der ßen Verlustwiderstand
stand.
Bei Halbleitern
Kennlinienknicke beim Übergangvom leitenden in den
und der
nichtleitenden
möglich ist, werden Vorwärts-
Netz-
teristik dargestellt (Z.B. bei einer Z-Diode unter 12V). Es
handelt sich immer um eine Zweipol-Prüfung;
ohne kann z. B. die Verstärkung eines Transistors nicht getestet
werden,wohlaberdieeinzelnen Übergänge B-C,B-E,C-E.
Da die am Testobjekt
Bei Volt beträgt,
Halbleiter
Schal-
seits ist deshalb ein Test der Durchbruch-
spannung an Halbleitern für hohe Speisespannung ausge-
schlossen.
Fehlerfal( in der Schaltung sowieso grobe Abweichungen
auftreten,
Bauelement
Recht genaue Ergebnisse erhält man beim Vergleich mit
sicherfunktionsfähigen
und Wertes. Dies gilt insbesondere auch für Halbleiter. Man
kann damit Z.B. den kathodenseitigen Anschluß einer Diode
Oder Z-Diode mit unkenntlicher
scheidung eines p-n-p-Transistors vom komplementären
p-n-Typ Oder die richtige Gehäuseanschlußfolge
50mA nes unbekannten Transistortyps schnell ermitteln.
Kondensatoren dürfen getestet
ist von bestechender
aus Prüfobjekt und einem
und der Spannungsabfall
zur Vertikalablenkung
eine reelle Größe (Z.B. ein Wider-
Bildschirm Wird ein
Strich dargestellt. 1st das Prüfobjekt
steht der Strich senkrecht.
zeigt sich eine waage-
Widerstandswert. Damit Fassen sich ohmische
zwischen 20 Q und 4, 7k Q testen.
und Induktivitäten
bei Netzfrequenz.
im Bereich O,IPF bis 1000pFangezeigt.
mit horizontaler Längsachse
(kleine Kapazität
Längsachse
(große Kapazität
bedeutet
in Reihe
erken nt man die spannungsabhängigen
Zustand. Soweit
und Rückwärts-Charak-
anliegende
können die einzelnen
zerstörungsfrei geprüft
Das ist im allgemeinen
die eindeutige Hinweise
geben.
Bauelementendes
Bedruckung,
werden !
Einfachheit. Der
Sinusspan-
am
benutzt.
phasengleich.
mehr Oder weniger
kurz-
Bei Unterbre-
des Striches ist ein
(Spulen, Drosseln,
Bilder. Lage und
Kondensato-
bedeutet
Oder große
bedeutet nied-
Oder kleine Induk-
einen relativ gro-
mit dem Blindwider-
das spannungsmäßig
deshalb
Spannung nur einige
Zonen fast alier
werden. Anderer-
Oder Sperr-
kein Nachteil, da im
auf das fehlerhafte
gleichen Typs
die Unter-
n-
B-C-E ei-
Änderungenvorbehalten