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Siemens ELMISKOP 102 Betriebsanleitung Seite 67

Hochleistungs-elektronenmikroskop

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18. Technische Daten
Beschleunigungs-
Spannung U
20
40
60
80
1 00
125
[kV+
I%]
Korrigierte Beschleuni-
gungsspannung
\/U"
143
204
252
294
332
Wellenlänge
h
0,00859
0,0060
0,00487
0,00418
0,0037
0,00328
[nm]
Konstanz
6 2 . 1
0-6/min
Garantierte Punktauflösung
0,3
nm
Netzebenenabbildung
0,2
nm
Vergrößerungen
200-
bis
500000fach
in
33
kalibrierten Stufen ohne Polschuhwechsel
digitale Anzeige, Toleranz
+
5%
E i n s t e l l b a r e V e r g r ö ß e r u n g e n
(abweichende Daten für f,
=
2,15
mm in Klammern)
NI
Bei Projektiv N1 )
=
7700,
-
W*-
&]
=
12.60
bei allen VergröRerungen
-V+
Vergrößerung
( X
1 000)
Objektiv
N
=
4900
I
N=
6480
1
f=
6 760
1
- -
NI A J
1
- -
NI
[ A l
- -
NI [ A l
vu*
V+
\/U"
vt
V U *
v3
etwa
+ I 4
1)
Anzahl der Windungen
30
40
50
60
80
100
125
150
200
250
300
400
500
64
etwa
+ I 4
7,46
7,33
7,23
7,16
7,09
7,Ol
6,97
6,92
6,90
6,90
6,89
6,86
6,85
3,04
3,29
3,53
3,76
4,19
4,58
5,05
5,48
6,32
7,11
7,94
9,66
12,lO

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