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Siemens ELMISKOP 102 Betriebsanleitung Seite 29

Hochleistungs-elektronenmikroskop

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5.16. Beugung
Programmbrennweite
(Fortsetzung)
f,
=
2,7 mm
I
f,
=
2,15 mni
L [mml
C ,
[AV-P.]
Q
[AV-i]
I
<p
[Grad]
c ,
[AV-
I ]
G ,
[AV-
$1
[Grad]
Tafel 2
Beugungslängen L, reduzierte Erregungen &der beiden Zwischenlinsen und Drehwinkelp,
des Beugungsbildes gegen das Objekt (im Uhrzeigersinn)
5.16.3. K l e i n w i n k e l b e u g u n g
Um große Beugungslängen zu erhalten, kann das Objektiv abgeschaltet und das
Beugungsbild des Präparates von den nachfolgenden Linsen vergrößert werden.
Die Beugungslänge ergibt sich aus der am Vergrößerungswahlschalter eingestellten
Vergrößerung und der Objektivbrennweite zu
und kann somit in weiten Grenzen variiert werden. Man erreicht Beugungslängen
über 100 m und gelangt mit einem Beugungsindex von 2
-
105 (Spitzen-
kathode) bis in den lichtoptischen Beugungsbereich. Es lassen sich Netzebenen-
abstände von 0,5 ,um nachweisen.
Der beugende Objektbereich wird durch die Blende im Kondensor 2 bestimmt.
5.16.5. B e u g u n g o h n e a b b i l d e n d e L i n s e n
Werden die Polschuhsysteme des Projektivs und der Zwischenlinse 2 entfernt, so
ist eine Beugung ohne Abbildungslinsen möglich. Diese Methode wird vor allem
dann angewendet, wenn große Präparatflächen zum Beugungsdiagramm beitragen
sollen.
Um einen kleinen Beugungsindex zu erzielen, wird der Cross-over mit dem Radius
r, vom Kondensor 1 stark verkleinert und vom Kondensor 2 auf die Fotoebene
abgebildet. Erreichbarer Beugungsindex wie bei Kleinwinkelbeugung. Die Beu-
gungslänge dieser Anordnung ist L
=
780 mm.
5.17. Hochauf-
5.17.1. S t r a h l k i p p u n g
lösende Dunkel-
feldabbildung
Ausgehend von der Einstellung für Feinbereichsbeugung lassen sich Dunkelfeld-
bilder kristalliner Objekte herstellen. Im Dunkelfeldbild werden nur Objektbereiche
abgebildet, deren Netzebenenscharen den Elektronenstrahl so beugen, daß er
symmetrisch zum Nullstrahl durch das Objektiv tritt. Alle anderen Strahlen werden
von der Objektiv-Aperturblende abgefangen und tragen nicht zum Bild bei. Die
Justierung der Einstrahlrichtung und der Aperturblende erfolgt im Beugungsbild.
Bei dieser Art von Dunkelfeldabbildung wird in den Kondensor 2 eine ringförmige
Blende1) (Bild 22) eingesetzt, das Ablenksystem bleibt in Zentrierstellung. Die nicht
gebeugten Strahlen werden durch die normale, zentrierte Objektiv-Aperturblende
abgefangen.
5.17.4. Z e n t r a l e r A u f f ä n g e r
Die Objektiv-Aperturblende wird durch eine Blende ersetzt, in deren Mitte ein
Steg sitzt, der den Nullstrahl des Beugungsbildes auffängt.
1)
Die Ring-Kondensoraperturblende C 71389-A7-D6 gehört nicht zum Lieferumfang des Mikroskops.

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