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Endress+Hauser Analytik Jena SPECORD PLUS Serie Serviceanleitung Seite 20

Uv/vis spektralphotometer
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Technische Daten und Parameter
20
Wellenlängenrichtig-
keit (Deuteriumlinie
bei 656,1 nm)
Wellenlängenrichtig-
keit (bei 360,9 nm,
Holmiumoxidfilter)*
Wellenlängenreprodu
zierbarkeit
(bei 360,9 nm,
Holmiumoxidfilter)*
Transmissionsnull-
punkt
Photometrische
Richtigkeit VIS (bei
546 nm, Neutralglas-
filter Hellma® F4)*
Photometrische
Richtigkeit UV
(Kaliumdichromat)*
Photometrische
Reproduzierbarkeit
(bei 546 nm,
Neutralglasfilter
Hellma® F4)*
Streulicht
198 nm (KCl)**:
220 nm (NaI):
240 nm (NaI):
340 nm (NaNO
):
2
Rauschen der
Basislinie bei 500 nm
in Absorbanz
Abweichung der
Basislinie in
Absorbanz
Langzeitstabilität bei
500 nm in Absorbanz
Registrier-
geschwindigkeit
Minimale
Integrationszeit
Minimales
Datenintervall
± 0,05 %T (200-1000 nm;
Spaltbreite 1,4 nm)
≤ 0,3 %T
≤ 0,03 %T
≤ 0,03 %T
≤ 0,02 %T
± 0,0005
(200-1000 nm; Spaltbreite
1,4 nm)
± 0,0005 1/h
Bis zu 12000 nm/min
SPECORD PLUS
± 0,1 nm
± 0,5 nm
≤ 0,02 nm
± 0,05 %T
(190-
1150 nm;
Spaltbreite
2 nm)
± 0,003
± 0,01
≤ 0,0005
≤ 0,3 %T
≤ 0,03 %T
≤ 0,03 %T
≤ 0,01 %T
≤ 0,0001
± 0,0005
(190-
1150 nm;
Spaltbreite
2 nm)
0,001 s
0,02 nm
± 0,05 %T
(200-
1000 nm;
Spaltbreite
2 nm)
≤ 0,03 %T
≤ 0,005 %T
≤ 0,005 %T
≤ 0,005 %T
± 0,0005
(200-
1000 nm;
Spaltbreite
2 nm)

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