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T4000 Bedienerhandbuch
Abbildung 4-23
Triac-Signatur
4.10 Integrierte Schaltkreise
Für den Test von ICs werden die Bereiche LOGIC und LOW empfohlen.
Alle integrierten Schaltkreise können durch Überprüfung von Anschlußpaaren getestet
werden. Die meisten ICs, die auf diese Weise getestet werden, zeigen Signaturen
ähnlich einer Diode oder Zenerdiode. Beachten Sie, daß ICs mit unterschiedlicher
Herstelltechnologie auch unterschiedliche Signaturen zeigen.
Dies muß berücksichtigt werden, bevor ein Bauteil als defekt diagnostiziert wird.
Beim Test von ICs ist es üblich, COM mit dem Masseanschluß des ICs zu verbinden.
Alternativ kann auch COM mit dem Anschluß für die Versorgungsspannung
angeschlossen werden.
Unter Umständen können instabile Signaturen auftreten. Verbinden Sie dann sowohl den
Masseanschluß, als auch Vcc mit COM, um den Effekt zu vermeiden.
Abbildungen 4-24, 4-25 und 4-26 zeigen Signaturen eines 74LS00 ICs.
Die Signatur in Abbildung 4-24 wird von den Eingangsschutzdioden dominiert, die mit der
Anode über die Schaltungsmasse mit COM verbunden ist. Die Signatur in Abbildung 4-25
ist komplexer, da mehrere Ausgangskomponenten innerhalb des ICs die Form
beeinflussen. Die Signatur in Abbildung 4-26 zeigt den Effekt eines Netzwerks von
Komponenten innerhalb des ICs.
Die korrespondierenden Signaturen für ein HC-Gatter (74HC02) und der 4000-Serie
CMOS (4017) werden in den Abbildungen 4-27 bis 4-29 sowie 4-30 bis 4-32 gezeigt.
4-20
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