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Feldeffekt-Transistoren; Junction-Fets (Jfets); Metal-Oxide Semiconductor Fets (Mosfets); Integrierte Schaltkreise - Polar T1500A Bedienerhandbuch

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ASA-HALBLEITERTESTS

5-3 Feldeffekt-Transistoren

Junction FETs (JFETs)
Der JFET besteht aus einer Sperrschicht aus Halbleitermaterial (Kanal) und einem Bereich
aus dotiertem Material (p-dotiert bei n-Kanal-Typen), dem Gate. Das Gate bildet einen
Diodenübergang an beiden Enden des Kanals (Source und Drain), und diese können wie
gewöhnliche Dioden getestet werden.

Metal-Oxide Semiconductor FETs (MOSFETs)

ACHTUNG: Beachten Sie die Vorsichtsmaßnahmen beim Hantieren mit MOSFETs.
Verwenden Sie die Bereiche Logic und Low (bei Leistungs-MOSFETs), nicht aber den
Bereich Med !
MOSFETs sind Feldeffekttransistoren mit einem vom Kanal isoliertem Gate. Die Gate-
Drain bzw. Gate-Source-Tests erzeugen für gewöhnlich eine Leerlaufsignatur; manche
MOSFETs besitzen jedoch eine Schutzdiode zwischen Gate und Source. In diesem Fall
ähnelt die Gate-Source-Signatur der einer Zenerdiode.

5-4 Integrierte Schaltkreise

Die Bereiche Logic und Junction bzw. die Frequenz Low werden für den Test von ICs
empfohlen. Alle Schaltkreise können durch Messen an zwei Anschlußbeinen getestet
werden. Die meisten Signaturen sehen Signaturen von Dioden und Z-Dioden sehr ähnlich.
Hinweis: Die Hersteller gleicher IC-Typen verwenden sehr oft verschiedene Technologien,
daher können die Signaturen stark abweichen. Dies sollte bedacht werden, bevor ein IC
vorschnell als defekt deklariert wird.
Soll ein IC getestet werden, so empfiehlt sich der Anschluß der COM-Klemme an den
GND-Anschluß des ICs. Alternativ dazu kann COM an Vcc angeschlossen werden.
In manchen Fällen erscheinen instabile Signaturen. Schließen Sie in diesem Fall GND mit
Vcc als Abhilfe kurz.
Die Abbildungen 5-6, 5-7 und 5-8 zeigen die Signaturen eines 74LS00.
Die Signatur in Abb. 5-8 wird durch die Eingangsschutzdiode mit der Anode hin zu COM
dominiert. Die Signatur in Abb. 5-7 ist komplexer, da mehrere integrierte Elemente ihre
Form bestimmen, ebenso die Signatur in Abb. 5-8.
Die Signaturen eines HC-Gatters (74HC02) und eines der CMOS 4000er-Serie
4017) sind
in den darauffolgenden Abbildungen dargestellt.
5-5

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