Integrierte Schaltkreise - Polar T3000 Bedienerhandbuch

T2500/T3000 Bedienerhandbuch
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Abbildung 31
Triac-Signatur

4.10 Integrierte Schaltkreise

Für den Test von IC´s werden die Bereiche LOGIC und LOW empfohlen.
Alle integrierten Schaltkreise können durch Überprüfung von Anschlußpaaren
getestet werden. Die meisten IC´s die auf diese Weise getestet werden, zeigen
Signaturen ähnlich einer Diode oder Zenerdiode. Beachten Sie, daß IC´s mit
unterschiedlicher Herstelltechnologie auch unterschiedliche Signaturen zeigen.
Dies muß berücksichtigt werden, bevor ein Bauteil als defekt diagnostiziert wird.
Beim Test von IC´s ist es üblich, COM mit dem Masseanschluß des IC´s zu
verbinden. Alternativ kann auch COM mit dem Anschluß für die Versorgungs-
spannung angeschlossen werden.
Unter Umständen können unstabile Signaturen auftreten. Verbinden Sie dann
sowohl den Masseanschluß als auch Vcc mit COM um den Effekt zu vermeiden.
Abbildungen 32, 33 und 34 zeigen Signaturen eines 74LS00 IC.
Die Signatur in Abbildung 32 wird dominiert von den Eingangsschutzdioden mit
der Anode über die Schaltungsmasse mit COM verbunden ist. Die Signatur in
Abbildung 33 ist komplexer, da mehrere Ausgangskomponenten innerhalb des
IC´s die Form beeinflussen. Die Signatur in Abbildung 34 zeigt den Effekt eines
Netzwerks von Komponenten innerhalb des IC´s.
Die korrespondierenden Signaturen für ein HC-Gatter (74HC02) und der 4000-
Serie CMOS (4017) werden in den Abbildungen 35 bis 37 sowie 38 bis 40 gezeigt.
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