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ANHANG D - Pinnumerierungsformate
T4040 PROGRAM- UND TEST-MODUS
Pinnumerierung auf den Steckern des T4040 (DIP-Format)
Dieses Format wird zum Testen von DIP-ICs verwendet, d.h. bei der Verwendung von IC-
Testclips. Das Beispiel unten zeigt das Format für DIP-Gehäuse mit 20-Pins.
Abb. D-3 T4040 Scanner-Steckverbinder - Program/Test-Modus 40 Pin DIP
Pinnumerierung auf den Steckern des T4040 (SIP-Format)
Diese Format wird verwendet, wenn SIP-Gehäuse oder beispielsweise SMD-Prüfspitzen
eingesetzt werden.
Das Beispiel unten zeigt das Format für 20 Pins (Frontansicht des Geräts).
Abb. D-4 T4040 Scanner-Steckverbinder - Program/Test-Modus 40 Pins
D-3
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