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T4000 Bedienerhandbuch
Ein Beispiel eines defekten ICs wird in den Abbildungen 4-33 und 4-34 gezeigt.
Abbildung 4-33 zeigt die Signatur zwischen Eingang und Masse eines guten ICs der
Type 7650 im Schaltkreis. Abbildung 4-34 zeigt die Signatur eines defekten 7650 im
selben Schaltkreis, dessen Eingangsschutzdioden ausgefallen sind.
Beachten Sie, daß die Schleifen in Abbildungen 4-28, 4-29, 4-31, 4-33 und 4-34 durch
Kapazitäten innerhalb des ICs verursacht werden. Die Wahl von MED oder HIGH
steigert diesen Effekt. Generell sollte für den IC-Test die Frequenz LOW verwendet
werden.
Abbildung 4-33
7650 in der Schaltung
LOGIC Bereich
LOW Frequenz
Eingang gegen Masse
Abbildung 4-34
7650 in der Schaltung
LOGIC Bereich
LOW Frequenz
Eingang gegen Masse
Defekter Bauteil
4-24
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