Hameg Instruments HM303-4 Bedienungsanleitung Seite 22

rechte Linie. Die Schrägstellung des Striches ist ein
Maß für den Widerstandswert. Damit lassen sich
ohmische Widerstände zwischen 20 Ω Ω Ω Ω Ω und 4,7k Ω Ω Ω Ω Ω testen.
Kondensatoren und Induktivitäten (Spulen, Drosseln,
Trafowicklungen) bewirken eine Phasendifferenz zwi-
schen Strom und Spannung, also auch zwischen den
Ablenkspannungen. Das ergibt ellipsenförmige Bilder.
Lage und Öffnungsweite der Ellipse sind kennzeich-
nend für den Scheinwiderstandswert bei einer Fre-
quenz von 50Hz. Kondensatoren werden im Bereich
0,1µF bis 1000µF angezeigt.
Eine Ellipse mit horizontaler Längsachse bedeutet
eine hohe Impedanz (kleine Kapazität oder große
Induktivität).
Eine Ellipse mit vertikaler Längsachse bedeutet nied-
rige Impedanz (große Kapazität oder kleine Induk-
tivität).
Eine Ellipse in Schräglage bedeutet einen relativ
großen Verlustwiderstand in Reihe mit dem Blind-
widerstand.
Bei Halbleitern erkennt man die spannungsabhängigen
Kennlinienknicke beim Übergang vom leitenden in den
nichtleitenden Zustand. Soweit das spannungsmäßig
möglich ist, werden Vorwärts- und Rückwärts-Charak-
teristik dargestellt (z.B. bei einer Z-Diode unter 7V). Es
handelt sich immer um eine Zweipol-Prüfung; deshalb
kann z.B. die Verstärkung eines Transistors nicht getestet
werden, wohl aber die einzelnen Übergänge B-C, B-E, C-
E. Da der Teststrom nur einige mA beträgt, können die
einzelnen Zonen fast aller Halbleiter zerstörungsfrei
geprüft werden. Eine Bestimmung von Halbleiter-Durch-
bruch- und Sperrspannung >7V ist nicht möglich. Das ist
im allgemeinen kein Nachteil, da im Fehlerfall in der
Schaltung sowieso grobe Abweichungen auftreten, die
eindeutige Hinweise auf das fehlerhafte Bauelement ge-
ben.
Recht genaue Ergebnisse erhält man beim Vergleich mit
sicher funktionsfähigen Bauelementen des gleichen
Typs und Wertes. Dies gilt insbesondere für Halbleiter.
Man kann damit z.B. den kathodenseitigen Anschluß
einer Diode oder Z-Diode mit unkenntlicher Bedruckung,
die Unterscheidung eines p-n-p-Transistors vom komple-
mentären n-p-n-Typ oder die richtige Gehäuseanschluß-
folge B-C-E eines unbekannten Transistortyps schnell
ermitteln.
Typ: Normale Diode
Pole: Kathode-Anode
Anschlüsse: (CT - Masse)
Änderungen vorbehalten
Hochspann.-Diode Z-Diode 6,8V
Kathode-Anode Kathode-Anode
(CT - Masse) (CT - Masse)
N-P-N Transistor
Pole: B-E
Anschlüsse: (CT - Masse)
P-N-P Transistor
Pole: B-E
Anschlüsse: (CT - Masse)
Zu beachten ist hier der Hinweis, daß die Anschlußum-
polung eines Halbleiters (Vertauschen von COMP. TE-
STER-Buchse mit Masse-Buchse) eine
Testbilds um 180° um den Rastermittelpunkt der Bildröh-
re bewirkt.
Wichtiger noch ist die einfache Gut-/Schlecht-Aussage
über Bauteile mit Unterbrechung oder Kurzschluß, die im
Service-Betrieb erfahrungsgemäß am häufigsten benötigt
wird.
Die übliche Vorsicht gegenüber einzelnen MOS-Bau-
elementen in Bezug auf statische Aufladung oder
Reibungselektrizität wird dringend angeraten. Brumm
kann auf dem Bildschirm sichtbar werden, wenn der
Basis- oder Gate-Anschluß eines einzelnen Transi-
stors offen ist, also gerade nicht getestet wird (Hand-
empfindlichkeit).
T ests direkt in der Schaltung sind in vielen Fällen möglich,
aber nicht so eindeutig. Durch Parallelschaltung reeller und/
oder komplexer Größen − besonders wenn diese bei einer
Frequenz von 50Hz relativ niederohmig sind − ergeben sich
meistens große Unterschiede gegenüber Einzelbauteilen.
Hat man oft mit Schaltungen gleicher Art zu arbeiten (Service),
dann hilft auch hier ein Vergleich mit einer funktionsfähi-
gen Schaltung . Dies geht sogar besonders schnell, weil die
Vergleichsschaltung gar nicht unter Strom gesetzt werden
muß (und darf!). Mit den Testkabeln sind einfach die identi-
schen Meßpunktpaare nacheinander abzutasten und die
Schirmbilder zu vergleichen. Unter Umständen enthält die
Testschaltung selbst schon die Vergleichsschaltung, z.B. bei
Stereo-Kanälen, Gegentaktbetrieb, symmetrischen
Brückenschaltungen. In Zweifelsfällen kann ein Bauteilan-
schluß einseitig abgelötet werden. Genau dieser Anschluß
sollte dann mit der COMP. TESTER-Prüfbuchse ohne Masse-
zeichen verbunden werden, weil sich damit die Brummein-
streuung verringert. Die Prüfbuchse mit Massezeichen liegt
an Oszilloskop-Masse und ist deshalb brumm-unempfindlich.
Die Testbilder auf Seite M18 zeigen einige praktische
Beispiele für die Anwendung des Komponenten-Testers.
B-C E-C
(CT - Masse) (CT - Masse)
B-C E-C
(CT - Masse) (CT - Masse)
Drehung des
M 17