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Handbuch XI1-I
Störfestigkeit gegen Entladung
statischer Elektrizität (ESD)
nach VDE 0843, Teil 2:
Störfestigkeit gegen
elektromagnetische Felder
nach VDE 0843, Teil 3:
Störfestigkeit gegen schnelle
transiente Störgrößen (Burst)
nach VDE 0843, Teil 4:
Funkentstörungsprüfung
nach DIN57871 und VDE0871:
Wiederholgenauigkeit:
Grundgenauigkeit der
Zeitverzögerung:
Genauigkeit des Stromes:
Genauigkeit der Auslösezeit
im Bereich 2 - 20 x I
:
S
Einfluss verlagerte Ströme:
Einfluss der Frequenz:
Mechanische Beanspruchung:
Schocken:
Schwingen:
Schutzart
Gerätefront:
Gewicht:
Einbaulage:
Gehäusematerial:
DOK-TD-XI1-I Rev. B
8 kV
10 V/m
4 kV / 2,5kHz, 15 ms
Grenzwert Klasse A
1 %
0,5 % oder ±25ms
±3 % vom Einstellwert
2 % DEFT/5 % NINV und VINV/7,5 % EINV/oder 25 ms
≤ 5 % Einfluss der Temperatur: 0,02 % pro K
0,5 % pro Hz Abweichung vom Nennwert
Klasse 1 nach DIN IEC 255-21-2
Klasse 1 nach DIN IEC 255-21-1
IP40 bei geschlossener Frontabdeckung
ca. 0,7 kg
beliebig
selbstverlöschend
SEG Electronics GmbH
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