Zerstörung Von Baugruppen Bei Kurzschluss - Alcatel-Lucent 1643 AM Handbuch

DE: Sicherheitsleitfaden
Stellen Sie daher sicher,
• dass die Lüftereinheit installiert ist,
• dass die einzelnen Lüfter nicht verdeckt werden.
Empfängerdioden
VORSICHT
Zerstörung der Empfängerdiode aufgrund zu hoher Eingangsleistung
Werden Ausgang und Eingang von optischen Baugruppen mit einer Sendeleistung größer
als -3 dBm über kurze Distanz miteinander verbunden, so führt dies zur Zerstörung der
Empfängerdiode aufgrund einer zu hohen Eingangsleistung.
Verwenden Sie ein optisches Dämpfungsglied von ca. 10 bis 20 dB, wenn Sie zu
Testzwecken Verbindungen über kurze Distanz bilden müssen.
Empfindlichkeit der Empfängerdioden
Empfindlichkeit der Empfängerdioden siehe 1643 Access Multiplexer (AM) and 1643
Access Multiplexer Small (AMS) Applications and Planning Guide (im Kapitel „Technical
specifications").
Kurzschluss
VORSICHT
Zerstörung von Baugruppen bei Kurzschluss
Ein Kurzschluss im Netzelement kann zur Zerstörung von elektronischen Bauelementen
und damit zum Funktionsausfall des Gesamtsystems führen.
Hantieren Sie deshalb nicht mit Gegenständen (wie bspw. einem Schraubendreher) im
Steckkartenbereich.
Prüfspannung
VORSICHT
Zerstörung von Bauelementen durch falsch gepolte oder zu hohe
Prüfspannung
Prüfspannungen über 6 V DC können bei Messungen an Baugruppen zur Zerstörung von
Bauelementen und damit zum Funktionsausfall des Gesamtsystems führen.
Stellen Sie sicher, dass die Prüfspannung 6 V DC nicht überschreitet. Achten Sie auf die
korrekte Polung der Testgeräte.
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365-312-878
Issue 3, June 2007
Alcatel-Lucent - Proprietary
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Betrieb und Wartung
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