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Anwendungen Und Messverfahren; Sensitometrische Überwachung Für Die Entwicklungskontrolle - X-Rite 396 Duales Betriebshandbuch

Inhaltsverzeichnis
2. Anwendungen und
Messverfahren
Sensitometrische Überwachung für
die Entwicklungskontrolle
Das Sensitometer belichtet Film mit einer vorgegebenen
Lichtmenge durch einen 21-stufigen Lichtmodulator.
Die maximale Lichtmenge wird von der Stufe 21 abge-
geben. Jede nachfolgende Stufe emittiert ca. 70,7% der
gegenüberliegenden Stufe (0,15 Log Belichtung). Die
Reaktion des entwickelten Films auf diese Belichtung
ist berechenbar. Eine graphische Darstellung zeigt die
optischen Dichte, die auf dem entwickelten Film ge-
messen wurde zusammen mit den relativen Log E Be-
lichtungswerten, bekannt als die D-Log E-Kurve. Ab-
bildung 1 zeigt die Reaktion auf einen normalen Rönt-
genfilm auf die Belichtung mit dem Sensitometer. Der
Teil der Kurve, der sich bei Abweichungen im Entwick-
lungsprozess am meisten ändert, wird der „gradlinige
Teil" der Kurve genannt.
Sie müssen die D-Log E-Kurven in einem normalen
Labor nicht auftragen, um automatische Entwickler zu
kontrollieren. Am einfachsten ist es, wenn Sie nur die
drei Werte der D-Log E-Kurve, die die wichtigsten
Daten geben, aufzeichnen.
Die folgenden drei Parameter der Kurve sollte
kontrolliert werden, um die relevanten Daten der
Entwicklung zu erhalten.
Grundschleier: Stufe 1 auf der D-Log E-Kurve
wird Grundschleier genannt und ist die am we-
nigsten belichtete Stelle des Films. Das ist die
Basisdichte plus eventueller Silberemulsions-
dichte, die in Bereichen mit vernachlässigbarer
Belichtung auftritt.
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