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Diodentest; Kapazitätsmessung - elv VA 18B Bedienungsanleitung

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10. Diodentest

Diese Funktion ermöglicht den Test von Halbleiterstrecken auf Durchgang
und Sperrfunktion.
Achtung
- Vor der Messung von Widerständen, Kontinuität (Durchgang), Dioden den
Strom des Stromkreises abschalten und alle Kondensatoren entladen.
Bedienung:
1. Stecken Sie den Stecker der schwarzen Messleitung in die Messbuchse
„COM" und den Stecker der roten Messleitung in die Messbuchse „V/Ω".
Verwenden Sie ggf. die kurzen Messleitungen, um das Messobjekt sicher
zu fixieren.
2. Schalten Sie den Drehschalter in den Widerstandsmessbereich und
drücken Sie 1 x die Taste „SELECT". Im Display erscheint: „
3. Verbinden Sie die Messspitzen mit dem Messobjekt, z. B. einer Diode.
Zeigt das Display dabei Overload („OL") an, so tauschen Sie die An-
schlüsse der Messspitzen am Messobjekt.
4. Zeigt das Display nun einen Wert an, so ist das Bauelement in Ordnung,
es wird die Durchlassspannung des Bauelements angezeigt (bei GE-
Dioden ca. 0,2 V, bei SI-Dioden ca. 0,5-0,8 V).
5. Zeigt das Display trotz Messspitzentauschs Overload an, so ist die
gemessene Halbleiterstrecke unterbrochen.
6. Zeigt das Display in beiden Anschlussrichtungen, also auch nach dem
Tausch der Messspitzen, einen Spannungswert nahe Null an, so ist die
Halbleiterstrecke kurzgeschlossen.
Die Polarität des Bauelements ist wie folgt feststellbar:
Wenn Sie z. B. die Diode mit dem Messgerät verbunden haben und
das Gerät zeigt eine Spannung an, so liegt die rote Messleitung an der
Anode des Bauelements
11. Kapazitätsmessung
Diese Funktion ermöglicht die Kapazitätsmessung an gepolten und unge-
polten Kapazitäten bis 300 µF.
Achtung
- Vor der Messung von Widerständen, Kontinuität (Durchgang), Dioden
18
".

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