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9. Diodentest
Diese Funktion ermöglicht den Test von Halbleiterstre-
cken auf Durchgang, Sperrfunktion oder normales Ver-
halten.
1. Schalten Sie den Drehschalter in den
reich. Im Display erscheint das Symbol
Vermeiden Sie auf jeden Fall ein Verbinden der Mess-
leitungen mit einer Spannungsquelle. Dies kann zu
Schäden am Messgerät führen. Daher messen Sie
nur an ausgeschalteten Messobjekten und entladen
Sie an das Messobjekt angeschlossene Kondensa-
toren.
2. Stecken Sie die rote Messleitung in die Messbuchse
V/Ω/mA und die schwarze Messleitung in die Mess-
buchse COM.
3. Verbinden Sie die Messleitungen mit dem Messob-
jekt, z. B. einer Diode. Zeigt das Display dabei sofort
Overload (OL) an, so tauschen Sie die Anschlüsse
der Messleitungen am Messobjekt.
4. Zeigt das Display nun einen Wert an, so ist das Bau-
element in Ordnung, es wird die Durchlassspannung
des Bauelements angezeigt (max. 2,0 V, bei GE-Di-
oden ca. 0,2 V, bei SI-Dioden ca. 0,5 V).
5. Zeigt das Display trotz Messleitungstauschs Over-
load (OL) an, so ist die gemessene Halbleiterstrecke
unterbrochen.
6. Zeigt das Display in beiden Anschlussrichtungen, also
auch nach dem Tausch der Messleitungen, einen
Spannungswert an, so ist die Halbleiterstrecke kurz-
geschlossen.
Die Polarität des Bauelements ist wie folgt feststellbar:
Wenn Sie die Diode mit dem Messgerät verbunden ha-
ben und das Gerät zeigt eine Spannung an, so liegt die
rote Messleitung an der Anode des Bauelements.
18
-Messbe-
.
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