Hameg Instruments HM203-5 Bedienungsanleitung Seite 34

Eine Ellipse mit horizontaler
hohe Impedanz (kleine Kapazität Oder große Induktivi-
tät).
Eine Ellipse mit vertikaler Längsachse bedeutet nied-
rige Impedanz (große Kapazität
tät).
Eine Ellipse in Schräglage bedeutet einen relativ gro-
ßen Verlustwiderstand in Reihe mit dem Blindwider-
stand.
Bei Halbleitern erkennt man die spannungsabhängigen
Kennlinienknjcke beim Übergangvom leitenden in den
nichtleiterden Zustand. Soweit das spannungsmäßig mog-
lich ist, werden Vorwärts-
dargesteilt {Z.B. bei einer Z-Diode unter 12V). Es handelt
sich immer um eineZweipol-Prüfung; deshalb kann Z.B.die
Verstärkung eines Transistors nicht getestet werden, wohl
aber die einzelnenUbergängeB-C, B-E,C-E. Da die am
Testobjekt anliegendeSpannungnur einige Volt beträgt,
können die einzelnen Zonen fast aller Halbleiter
rungsfrei geprüft werden. Andererseits
Test der Durchbruch-OderSperrspannung an Halbleltern
für hoheSpeisespannung ausgeschlossen. D asist imallge-
menen kein Nachteil. da im Fehlerfall in der Schaltung
sowieso grobe Abweichungen auftreten. die eindeutige
Hinweise auf das fehlerhafte Bauelement geben.
Recht genaueErgebnisseerhält man beim Vergleich mit
sicher funktionsfähigen
Typs und Wertes. Dies gilt insbesondere auch für Halblei-
ter. Man kann damit Z.B. den kathodenseitigen Anschtuß
einer Diode OderZ-Diode mit unkenntlicherBedruckung,
die Unterscheidungeines p-n-p-Transistors vom komple-
mentären n-p-n-Typ Oder die richtige Gehäuseanschluß-
folge B-C-E eines unbekannten Transistortyps schnel
ermitteln.
Typ: Normale Diode
Pole:
Katho de-Anode
Anschlüsse: (CT-Massel
N-P-N Transistor:
Pole:
Anschlüsse:
{CT-M
P-N-P Transistor:
Pole:
Anschlüsse: ICT-Masse)
Änderurgen vcr5enalter
Längsachse bedeutet eine
Oder Weine Induktivi-
und Rückwärts-Charakteristik
zerstö-
ist deshalb ein
Bauelementen des gleichen
Hochspann.-Oiode Z-Diode
Kathode-Anode
Kathode-Anode
ICT-Masse) ICT-Masse}
B-C
(CT-Massel
(CT-Masse)
B-C
ICT-Massei
(CT-Masse)
Zu beachtenist hierder Hinweis,daßdie Anschlußumpo-
lung eines Halbleiters
Masse-Buchse) eine Drehung des Testbilds um 1800um
den Rastermittelpunkt der Bildröhre bewirkt.
Wichtiger nochist die einfacheGut-Schlecht-Aussage über
Bauteile mit Unterbrechung Oder Kurzschluß, die im Ser-
vice-Betrieberfahrungsgemäß am häufigstenbenötigt
wird.
Die übtiche Vorsicht gegenüber einzelnen MOS-Baue-
Jementen jn Bezug auf statische Aufladung Oder Rei-
bungselektrizität Wird dringend angeraten. —Brumm
kann auf dem Bildschirm sichtbar werden, wenn der
Basis- Oder Gate-Anschluß
offen ist, also gerade nicht getestet Wird (Handemp-
findlichkeit).
Testsdirektin derSchattungsindinvielenFällen rnöglich,
abernicht soeindeutig.DurchParallelschaltung r eenerund/
Oder komplexer Größen — besonders wenn diese bei Netz-
frequenzrelativniederohmigsind—ergebensichmeistens
große Unterschiedegegenüber Einzelbauteilen. H at man
oft mit Schaltungen gleicherArt zu arbeiten(Service), d ann
hilft auchhierein Vergleichmit einer funktionsfähigen
Schaltung. Dies geht sogar besonders schnell, weil die
Vergieichsschaltung garnichtunterStromgesetztwerden
muß (und darf!). Mit den Testkabeln sind einfach die identi-
schen Meßpunktpaare nacheinander abzutasten und die
Schirmbilder zu vergleichen. Unter Umständen enthält die
Testschaltung selbstschondie Vergleichsschaltung, Z.B.
bei Stereo-Kanälen,Gegentaktbetrieb. symmetrischen
Brückenschaltungen. In Zweifelsfällen kann ein Bauteilan-
schluß einseitig abgelötet werden. Genaudieser Anschluß
sollte dann mit der CT-Prüfbuchse
verbunderwerden.weilsichdamitdieBrummeinstreuung
verringert.Die Prüfbuchsemit Massezeichen liegtanOszil-
loskop-Masseund ist deshalbbrumm-unempfindlich.
1 2V
Beim Testin der Schaltung ist es notwendig, die an die
BNC•Buchsen des HM203-5 angeschlossenen Meßka-
bel- und Tastteiler-Verbindungen zur Schattung hin zu
trennem Sonst ist man nicht mehr wahlfrei
Meßpunkt-Abtastung(doppelteMasseyerbindung).
DieTestbilderauf Seite MI 4 zeigeneinigepraktischeBei-
spiele für die Anwendung des Komponenten-Testers.
(Vertauschen von CT-Buchse mit
eines einzelnen Transistors
ohne Massezeichen
bei der
M13 203-5