Hameg Instruments HM 303-3 Bedienungsanleitung Seite 22

ein Maß für den Widerstandswert.
ohmische Widerstände
sten.
Kondensatoren und Induktivitäten
Trafowicklungen) bewirken eine Phasendifferenz zwi-
schen Strom und Spannung, also auch zwischen den
Ablenkspannungen. Das ergibt ellipsenförmige
Lage und Öffnungsweite der Ellipse sind kennzeich-
nend für den Scheinwiderstandswert
quenz von 50Hz. Kondensatoren werden im Bereich
O,IPF bis 1000pF angezeigt.
Eine Ellipse mit horizontaler
eine hohe Impedanz
Induktivität).
Eine Ellipse mit vertikaler
rige Impedanz (große
tivität).
Eine Ellipse in Schräglage
großen Verlustwiderstand
widerstand.
Bei Halbleitern erkennt
abhängigen Kennlinienknicke
'eitenden in den nichtleitenden
spannungsmäßig möglich ist, werden
Rückwärts-Charakteristik
Diode unter 7V). Es handelt sich immer um eine Zweipol-
Prüfung; deshalb kann Z.B. die Verstärkung
sistors nicht getestet werden,
ÜbergängeB-C,B-E,C-E.Da der Teststrom nur einige
mA beträgt, können die einzelnen Zonen fast aller Halb-
leiter zerstörungsfrei
mung von Halbleiter-Durchbruch-
>7V ist nicht möglich.
Nachteil, da im Fehlerfall in der Schaltung sowieso grobe
Abweichungen auftreten,
das fehlerhafte Bauelement
Recht genaue Ergebnisse
mit sicher funktionsfähigen
chen Typs und Wertes.
leiter. Man kann damit Z.B. den kathodenseitigen
schluß einer Diode Oder Z-Diode
druckung, die Unterscheidung
vom komplementären
Gehäuseanschlußfolge
Transistortyps schnell ermitteln,
Typ: Normale Diode
Kathode-Anode
pole:
Anschlüsse: (CT - Massey
Anderungen vorbehalten
Damit lassen
zwischen 200 und 4,7kQ
(Spulen, Drosseln,
bei einer
Längsachse bedeutet
(kleine Kapazität Oder große
Längsachse bedeutet
Kapazität Oder kleine
bedeutet einen relativ
in Reihe mit dem Blind-
man die spannungs-
beim Ubergang vom
Zustand. Soweit
Vorwärts-
dargestellt (Z.B. bei einer Z-
eines Tran-
wohl aber die einzelnen
geprüft werden. Eine Bestim-
und Sperrspannung
Das ist im allgemeinen
die eindeutige Hinweise
geben.
erhält man beim Vergleich
Bauelementen des glei-
Dies gilt insbesondere für Halb-
mit unkenntlicher
eines p-n-p-Transistors
n-p-n-Typ Oder die richtige
B-C-E eines unbekannten
Hochspann.-Diode Z-Diode 6,8V
Kathode-Anode kathode-Anode
(CT - Masse) (CT - Massey
sich
te-
N-P-N Transistor
Pole:
Anschlüsse:
Bilder.
Fre-
P-N-P Transistor
Pole:
(CT - Masse)
Anschlüsse:
nied-
Zu beachten ist hier der Hinweis,
Induk-
polung eines Halbleiters
TESTER-Buchse
Testbilds um 1800 um den Rastermittelpunkt
röhre bewirkt.
Wichtiger noch ist die einfache Gut-/Schlecht-Aussage
über Bauteile mit Unterbrechung Oder Kurzschluß, die
im Service-Betrieb erfahrungsgemäß am häufigsten be-
nötigt wird.
das
und
Die übliche Vorsicht
elementen in Bezug
Reibungselektrizität
kann auf dem Bildschirm
Basis- Oder Gate-Anschluß
stors offen ist, also gerade nicht getestet Wird (Hand-
empfindlichkeit).
Tests direkt in der Schaltung
kein
lich, aber nicht so eindeutig. Durch Parallelschaltung reeller
und/oder komplexer Größen - besonders wenn diese bei
auf
einer Frequenz von 50Hz relativ niederohmig sind - erge-
ben sich meistens große Unterschiede gegenüber Einzel-
bauteilen. Hat man oft mit Schaltungen gleicher Art zu
arbeiten (Service), dann hilft auch hier ein Vergleich mit
einer funktionsfähigen
sonders schnell, weil die Verg!eichsschaltung
unter Strom gesetzt werden
An-
Testkabeln sind einfach die identischen
Be-
nacheinander abzutasten und die Schirmbilder zu verglei-
chen. Unter Umständen enthält die Testschaltung
schon die Vergleichsschaltung, Z.B. bei Stereo-Kanälen,
Gegentaktbetrieb, symmetrischen Brückenschaltungen. In
Zweifelsfällen kann ein Bauteilanschluß einseitig abgelötet
werden. Genau dieser Anschluß
TESTER-Prüfbuchse
werden, weil sich damit die Brummeinstreuung
Die Prüfbuchse mit Massezeichen
Masse und ist deshalb brumm-unempfindlich.
Die Testbilder auf Seite M 18 zeigen einige praktische
Beispiele für die Anwendung
- Masse) (CT - Masse)
(CT - Masse)
daß die Anschlußum-
(Vertauschen von COMP.
mit Masse-Buchse) eine Drehung
gegenüber einzelnen
auf statische Aufladung
wirddringendangeraten.
sichtbar werden,
eines einzelnen
Sind in vielen Fällen mög-
Schaltung. Dies geht sogar be-
muß (und darf!). Mit den
sollte dann mit der COMP.
ohne Massezeichen
liegt an Oszilloskop-
des Komponenten-Testers.
E-C
(CT - Masse)
(CT - Masse)
des
der Bild-
MOS-Bau-
Oder
Brumm
wenn der
Transi-
gar nicht
Meßpunktpaare
selbst
verbunden
verringert.
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