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SPEZIFIKATIONEN
* Patent Nr. 5,625,270
Änderungen vorbehalten.
*Wellenlängenbereich: 190 bis 1100 nm (DR/4000 U),
320 bis 1100 nm (DR/4000 V)
*Wellenlängengenauigkeit: ± 1 nm
*Wellenlängenreproduzierbarkeit: ± 0,1 nm
*Wellenlängenauflösung: 0,1 nm
*Wellenlängenkalibration: intern, automatisch beim Anstellen mit visueller
Rückmeldung
*Wellenlängendrehgeschwindigkeit: 15.000 nm/Minute
*Scan-Geschwindigkeit: 400 nm/Minute bei 2,0 nm Schritten
Spektrale Bandbreite: 4 nm maximal
Lichtquelle: Wolfram und Deuterium (DR/4000 U), Wolfram (DR/4000 V)
Wechsel der Lichtquelle: automatische Umschaltung
Photometrischer Bereich: 0 bis 3 ABS (Extinktion),
0,1 bis 100% T (-3,0 bis 3,0 ABS, 0,1 bis 200%T)
Photometrische Reproduzierbarkeit: (Einzelküvettenmodul) ± 0,001 ABS
bei 1 ABS, 546,1 nm
Photometrische Reproduzierbarkeit: (Karussellmodul) ± 0,002 ABS bei 1 ABS,
546,1 nm, Z: 1-n Modus
Photometrische Linearität: ± 0,002 ABS maximal von 0 bis 1 ABS bei 546,1 nm
Streulicht: 3,3 ABS minimal bei 0,05% T maximal bei 220 nm und 340 nm
Weglänge: 100 mm
Monochromator Konstruktion: Seya-Namioka Strahlspaltung
Bildraster: 1200 Reihen/mm; 8 nm/mm Streuung
Ausgänge: Parallel-Druckeranschluß und serielle I/O (RS232)
Display: hintergrundbeleuchtete, grafische Flüssigkristallanzeige mit einstell-
barem Sichtwinkel und Kontrastregelung
Lagertemperatur: -17 bis 60°C, 85% rel. Feuchtigkeit, ohne Kondensatbildung
Betriebstemperatur: 10 bis 40°C, 95% rel. Feuchtigkeit, ohne Kondensatbildung
9
200 nm/Minute bei 1,0 nm Schritten
100 nm/Minute bei 0,5 nm Schritten
40 nm/Minute bei 0,2 nm Schritten
20 nm/Minute bei 0,1 nm Schritten
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