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9. Diodentest
Diese Funktion ermöglicht den Test von Halbleiterstre-
cken auf Durchgang und Sperrfunktion.
Vermeiden Sie auf jeden Fall ein Verbinden der Mess-
leitungen mit einer Spannungsquelle. Dies kann zu
Schäden am Messgerät führen. Daher messen Sie nur
an ausgeschalteten Messobjekten und entladen Sie an
das Messobjekt angeschlossene Kondensatoren.
1. Schalten Sie den Drehschalter auf „Ω
2. Betätigen Sie die Taste „SELECT". Im Display er-
scheint ein Diodensymbol.
3. Stecken Sie die rote Messleitung in die Messbuchse
V/Ω/Hz und die schwarze Messleitung in die Mess-
buchse COM.
4. Verbinden Sie die Messleitungen mit dem Messob-
jekt, z. B. einer Diode. Zeigt das Display dabei sofort
Overload (OL) an, so tauschen Sie die Anschlüsse
der Messleitungen am Messobjekt.
5. Zeigt das Display nun einen Wert an, so ist das Bau-
element in Ordnung, es wird die Durchlassspannung
des Bauelements angezeigt (bei GE-Dioden ca.
0,2 V, bei SI-Dioden ca. 0,5 V).
6. Zeigt das Display trotz Messleitungstauschs Over-
load (OL) an, so ist die gemessene Halbleiterstrecke
unterbrochen.
7. Zeigt das Display in beiden Anschlussrichtungen,
also auch nach dem Tausch der Messleitungen, einen
Spannungswert nahe Null an, so ist die Halbleiter-
strecke kurzgeschlossen.
8. Als Sonderfunktion steht hier HOLD zur Verfügung.
Die Polarität des Bauelements ist wie folgt feststellbar:
Wenn Sie z. B. die Diode mit dem Messgerät verbunden
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".
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