Xylem SI Analytics TitroLine 7800 Gebrauchsanleitung Seite 530

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Fig. 207
Aquí la pantalla al seleccionar dos parámetros de medición:
Fig. 208
En el caso de la medición continua, la longitud de la medición y la frecuencia de medición/número de puntos de
medición se pueden determinar adicionalmente (Fig. 209).
Fig. 209