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Funktion
Diodentest
Frequenz***** kHz
(mV-Bereich) 0 kHz
Frequenz***** 0 Hz -
(V-Bereiche)
Frequenz***** 50 Hz -
(mA/A-Ber.)
Tastverhältnis -99%
Kapazität
Bereich bis 800 mV: Re ≥ 4000 MΩ; Bereiche ab 8 V:
*
Re ≥ 0 MΩ; Überlastgeschützt: bis 000 V ACrms/DC
Re ≥ 0 MΩ, Frequenzbereich 40-400 Hz (RMS, Sinus)
**
Überlastgeschützt bis 000 V ACrms/DC
***
50-60 Hz: ±0,8%+60/40 Digit (≥8/80 mV); 40-50 Hz/60-400
Hz: ±,5%+60/40 Digit (≥8/80 mV)
****
50-60 Hz: ±0,8%+0 Digit;
40-50 Hz/60-400 Hz: ±,5%+0 Digit
*****
mV-Bereich: Empfindlichkeit 00 mV bis 00 kHz, 600 mV
ab 00 kHz; Ue max: 30 Vrms
V-Bereiche: Empfindlichkeit: ≥600 mV rms. Ue max: 30 Vrms
mA/A-Bereiche: Amplitude ≥30.000 Digit
Diode, Widerstand, Kapazität, Frequenz/Tastverhältnis:
Überlastgeschützt bis 600 V Vss
Strommessbereiche abgesichert: F /0 A/50 V, Glas 5 x 0
Genauigkeitsangaben für ein Jahr, bezogen auf eine Betriebstem-
peratur von 3 ˚C ± 5˚C und max. 80 % rel. Luftfeuchte
Bereich
Genauigkeit
3 V
±0,0% + Digit 0,0 Hz
00 kHz
MHz
00 kHz ±0,% + 3 Digit
0 kHz
±0,% + 3 Digit 0, Hz
nF
±,0%+5 Digit
(bei REL∆)
0 nF
±,0% + 3 Digit 0 pF
00 nF
µF
0 µF
±3,0% + 5 Digit 0 nF
00 µF
Auflösung
mV
0, Hz
Hz
0 Hz
0,0 Hz -
Hz
0,0 Hz -
0,0%
pF
00 pF
nF
00 nF
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