Test-Register (Base + 16) - Addi-Data ADDICOUNT CPCI-1710 Funktionsbeschreibung

APCI-/CPCI-1710

2.6.5 Test-Register (Base + 16)

Das Testregister ist nur beschreibbar. Der Wert 1 entspricht dem aktiven
Zustand. Bit 0 wird automatisch zurückgesetzt.
Für den Test des Bausteins und der angeschlossenen Peripherie ist ein Test-
Mode vorgesehen, in dem intern alle 8-Bit-Zählerketten als Abwärtszähler
betrieben werden. Unabhängig von externen Signalen dekrementieren alle
8-bit Zählerketten parallel bei jeder negativen Taktflanke von CLKX.
Um den Gleichlauf der Zählerketten zu erreichen, muss nach Aktivierung
des Testbetriebes die CLEAR-Funktion ausgelöst werden. Nach Auslösung
von Strobevorgängen über das Strobe-Register (Setzen von Bit 0) bzw. über
den externen Pin F (EXSTBx1) zu beliebigen Zeitpunkten müssen alle 4
Bytes einer Latchgruppe beim Auslesen identisch ein.
Wird während des Testbetriebs das MODE-Register 1 ausgelesen, so beträgt
dieser Wert unabhängig vom einprogrammierten Wert 10 HEX. Nach
Beendigung des Testbetriebs ist der alte unveränderte Wert auslesbar.
Der Testbetrieb wird verlassen, wenn entweder ein RESET-Vorgang
ausgelöst wird oder in Bit 1 des Testregisters der Wert 0 eingeschrieben
wird.
Die Clear-Funktion setzt nach der Ausführung das Bit 0 des Test-Registers
automatisch zurück. In dieser Bitposition ist also nur ein Schreibzugriff
sinnvoll.
Inkrementalzähler
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