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System
T
= -40 bis +85 °C (sofern nicht anders angegeben)
A
RAM-Speicher-Anwendung
Datenerfassungsspeicher
Sicherheitsintegritätslevel
Systemkapazität
Bauteilkomplexität
PFH
D
SFF
HFT
Diagnose-Testintervall
Lebensdauer
Regelmäßige Abnahmeprüfung
Sensorversorgung, VREF
Anzahl VREF
Ausgangsspannung
Temperaturdrift Ausgangsspannung
Max. Belastungsstrom
Schutz
Diagnose
Unter-/Überspannungsgrenze
Analogeingang, VIN
Anzahl VIN
VIN-Vollausschlag
VIN-Auflösung
Eingangsimpedanz
Genauigkeit
mit externer Sensorversorgung
mit VREF-Sensorversorgung
Abtastrate
Max. Dauerspannung
Schutz
Diagnose
Digitaleingang, DIN
Anzahl DIN
Logikebenen
niedrig
hoch
Hysterese
Eingangsimpedanz
Abtastrate
Max. Dauerspannung
Diagnose
Bedienungsanleitung, IQAN-MC3
IQAN-MC3 Technische Informationen
1,5 MB
typ. 80.000 Aufzeichnungen
bis SIL2
SC2
Typ B
-8
2 x 10
98%
0
100 ms bei T
<75 ms
SC
10 Jahre oder 20.000 Stunden
Nein
2
5 V ±150 mV, -40 bis 85 °C
0,25 mV/°C, -40 bis 85 °C
140 mA an jedem VREF
Überlast, SCB, SCG
Über-/Unterspannung
±150 mV des Nennwerts
16
5.000 mV ±100 mV
12 Bits = 1,22 mV
36 kOhm parallel zu 10 nF
±(0,8 % + 5 mV)
±(0,2 % + 5 mV)
entspricht Systemzykluszeit
5,5 V
SCB, SCG
ADC-Waagenfehler <3 %
16 (je nach Konfiguration ist die Anzahl auch geringer)
<1 V
>4 V
>0,1 V
6,8 kOhm parallel zu 10 nF
entspricht Systemzykluszeit T
32 V
In Anwendung definiert
Anhang A
SC
51
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